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316 Treffer

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    Credence Systems Corporation (CMOS).
    In: Wall Street Transcript, Jg. 170 (2005-10-24), Heft 4, S. 126-128
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    Wie komme ich dran?
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    Credence 1Q net up 76%, sales 71%.
    In: Electronic News, Jg. 42 (1996-02-26), Heft 2105, S. 16-16
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Credence 3Q sales up 57%, net 63%.
    In: Electronic News, Jg. 41 (1995-08-21), Heft 2079, S. 10-10
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Credence net soars in 3Q.
    In: Electronic News, Jg. 40 (1994-08-22), Heft 2028, S. 16-16
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    AROUND THE CIRCUIT.
    In: Microwave Journal, Jg. 49 (2006-11-01), Heft 11, S. 44-48
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    Siehe Detailanzeige für Volltext
    Wie komme ich dran?
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    AMTEL BUYS CREDENCE OCTET SYSTEMS TO TEST SOC SYSTEMS.
    In: CAD/CAM Update, Jg. 15 (2003-10-01), Heft 10, S. 6-8
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    HKSIP/CREDENCE TO SUPPORT HONG KONG'S FABLESS COMMUNITY.
    In: CAD/CAM Update, Jg. 15 (2003-10-01), Heft 10, S. 4-6
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    Wie komme ich dran?
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    IMS INTRODUCES LINUX CONTROLLER FOR VANGUARD SYSTEM.
    In: Computer Workstations, 2002-10-01, S. 6-8
    Online serialPeriodical
    Siehe Detailanzeige für Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Bottoms out of Credence. (cover story)
    Fasca, Chad
    In: Electronic News, Jg. 44 (1998-12-14), Heft 2249, S. 1-3
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Credence $34M deal for EPRO targets memory testing entry.
    Dorsch, Jeff
    In: Electronic News, Jg. 41 (1995-02-13), Heft 2052, S. 1-3
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    ITC Product Highlights.
    In: Test & Measurement World, Jg. 20 (2000-12-01), Heft 15, S. 70-73
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    STS BUYS MULTIPLE CREDENCE OCTET SOC SYSTEMS.
    In: CAD/CAM Update, Jg. 15 (2003-11-01), Heft 11, S. 7-8
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Test's SPLIT PERSONALITY.
    Maloney, Lawrence D.
    In: Test & Measurement World, Jg. 28 (2008-07-01), Heft 6, S. 27-29
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    FINANCIAL NEWS.
    In: Microwave Journal, Jg. 50 (2007-02-01), Heft 2, S. 58-59
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Product Briefing.
    In: EE: Evaluation Engineering, Jg. 42 (2003-09-01), Heft 9, S. 8-9
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    The Test Floor.
    Chappell, Jeff
    In: Electronic News, Jg. 48 (2002-05-20), Heft 21, S. 20-21
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    The Test Floor.
    Chappell, Jeff
    In: Electronic News, Jg. 46 (2000-10-09), Heft 41, S. 54-55
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    EQUITY.
    In: Investment Dealers' Digest, Jg. 71 (2005-06-20), Heft 24, S. 54-54
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Test system supports WLAN, WiMAX, Zigbee.
    In: Mobile Radio Technology, Jg. 24 (2006-08-01), Heft 8, S. 80-80
    Online serialPeriodical
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    Volltext (PDF)
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    SoC Test Platform Speeds Time-To-Volume.
    Fakhry, Lisa
    In: Electronic Design, Jg. 50 (2002-09-02), Heft 18, S. 31-31
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    Wie komme ich dran?
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