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    Icosahedral ordering in Ti-Hf-Ni alloys?
    SADOC, Anne ; HUETT, V. T ; et al.
    In: Liquid and Amorphous Metals XII: Proceedings of the 12th International Conference on Liquid and Amorphous Metals, Metz, France, 11-17 July 2004, Jg. 353 (2007), Heft 32-40, S. 3689-3692
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Model of leakage current induced by dynamic stress in thin EEPROM tunnel oxides
    SORBIER, J. P ; CROCI, S ; et al.
    In: Proceedings of the 4th Franco-Italian Symposium on SiO2 and Advanced Dielectrics, Trento, Italy, 16-18 September, 2002, Jg. 322 (2003), Heft 1-3, S. 122-128
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Inelastic light, neutron, and X-ray scattering related to the heterogeneous elasticity of glasses
    DUVAL, E ; SAVIOT, L ; et al.
    In: Proceedings of the fourth international discussion meeting on relaxations in complex systems, Hersonissos, Crete, Greece, 17-23 June 2001, Jg. 307-10 (2002), S. 103-108
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Effect of aging on the Boson peak and relaxation processes in a glassy polymer
    ETIENNE, S ; DAVID, L ; et al.
    In: Proceedings of the fourth international discussion meeting on relaxations in complex systems, Hersonissos, Crete, Greece, 17-23 June 2001, Jg. 307-10 (2002), S. 109-113
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Theoretical and experimental study of the conduction mechanism in Al/Ta2O5/SiO2/Si and Al/Ta2O5/Si3N4/Si structures
    CHANELIERE, C ; AUTRAN, J. L ; et al.
    In: Proceedings of the 2nd Franco-Italian Symposium on SiO2 and Advanced Dielectrics, Jg. 245 (1999), S. 73-78
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Study of hot carrier degradation in DRAM cells combining random telegraph signal and charge pumping measurements
    PIERUNEK, S ; POGANY, D ; et al.
    In: Proceedings of the 2nd Franco-Italian Symposium on SiO2 and Advanced Dielectrics, Jg. 245 (1999), S. 59-66
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Properties of SiO2 films deposited on silicon at low temperatures by plasma enhanced decomposition of hexamethyldisilazane
    PECHEUR, A ; AUTRAN, J. L ; et al.
    In: Proceedings of the 2nd Franco-Italian Symposium on SiO2 and Advanced Dielectrics, Jg. 245 (1999), S. 20-26
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Electrical properties of oxynitride thin films using noise and charge pumping measurements
    MASSON, P ; MORFOULI, P ; et al.
    In: Proceedings of the 2nd Franco-Italian Symposium on SiO2 and Advanced Dielectrics, Jg. 245 (1999), S. 54-58
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Dynamic stressing of thin tunnel oxides : a way to emulate a single EEPROM cell programming function
    PLOSSU, C ; VOISIN, J. M ; et al.
    In: Proceedings of the 2nd Franco-Italian Symposium on SiO2 and Advanced Dielectrics, Jg. 245 (1999), S. 85-91
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Density fluctuations in amorphous systems: SAXS and PALS results
    DAVID, L ; VIGIER, G ; et al.
    In: International Discussion Meeting on Relaxations in Complex Systems, Jg. 235-37 (1998), S. 383-387
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Local order and nanostructure induced by microalloying in Al-Y-Fe amorphous alloys
    SADOC, Anne ; HECKMANN, Olivier ; et al.
    In: Journal of non-crystalline solids, Jg. 353 (2007), Heft 29, S. 2758-2766
    academicJournal
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Kinetic study of silicon alkoxides gelation by acoustic and rheology investigations
    GRIESMAR, P ; PONTON, A ; et al.
    In: Journal of non-crystalline solids, Jg. 319 (2003), Heft 1-2, S. 57-64
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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