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  1. VENUS, D ; KIRSCHNER, J
    In: Physical review. B, Condensed matter, Jg. 37 (1988), Heft 4, S. 2199-2211
    Online academicJournal
  2. MATIVETSKY, Jeffrey M ; TARVER, Jacob ; et al.
    In: Organic electronics (Print), Jg. 15 (2014), Heft 2, S. 631-638
    academicJournal
  3. HE, WANG ; MATIVETSKY, Jeffrey M ; et al.
    In: Organic electronics (Print), Jg. 15 (2014), Heft 11, S. 3333-3340
    academicJournal
  4. HSU, Yimin ; NIKITIN, Vladimir ; et al.
    In: IEEE transactions on magnetics, Jg. 43 (2007), Heft 2, S. 605-608
    Online Konferenz
  5. SAVENIJE, Tom J ; KROEZE, Jessica E ; et al.
    In: Proceedings of Symposium F on Thin Film and Nanostructured Materials for Photovoltaics, EMRS 2005 Conference, Strasbourg, France, May 31-June 3, Jg. 511-12 (2006), S. 2-6
    Konferenz
  6. REICHELT, Manuela ; WEIRICH, Thomas E ; et al.
    In: Journal of materials science, Jg. 41 (2006), Heft 14, S. 4543-4553
    Online Konferenz
  7. LAU, Kenneth K. S ; YU, MAO ; et al.
    In: Proceedings of the Third International Conference on Hot-Wire CVD (Cat-CVD) Process, Utrecht, The Netherlands, August 23-27, 2004, Jg. 501 (2006), Heft 1-2, S. 211-215
    Konferenz
  8. LEYS, F. E ; BONZOM, R ; et al.
    In: Proceedings of the Fourth International Conference on Silicon Epitaxy and Heterostructures (ICSI-4), Awaji Island, Hyogo, Japan, Jg. 508 (2006), Heft 1-2, S. 292-296
    Konferenz
  9. BOBZIN, K ; LUGSCHEIDER, E ; et al.
    In: Proccedings of the 31st International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films, Jg. 188-89 (2004), S. 649-654
    Konferenz
  10. VANDERVORST, W ; JANSSENS, T ; et al.
    In: Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS XIII: Proceedings of the Thirteenth International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry and Related Topics Nara-Ken New Public Hall, Jg. 203-04 (2003), S. 371-376
    Konferenz
  11. CAO, Shao-Wen ; YUAN, Yu-Peng ; et al.
    In: International journal of hydrogen energy, Jg. 38 (2013), Heft 3, S. 1258-1266
    academicJournal
  12. WHITTAKER-BROOKS, Luisa ; MATIVETSKY, Jeffrey M ; et al.
    In: Organic electronics (Print), Jg. 14 (2013), Heft 12, S. 3477-3483
    academicJournal
  13. HE, WANG ; GOMEZ, Enrique D ; et al.
    In: Journal of physical chemistry. C, Jg. 117 (2013), Heft 40, S. 20474-20484
    academicJournal
  14. LOO, Roger ; CAYMAX, Matty ; et al.
    In: In-line characterization, yield, reliability, and failure analysis in microelectronic manufacturing II (Edinburgh, 31 May - 1 June 2001), 2001, S. 131-140
    Konferenz
  15. SIMOEN, E ; MITARD, J ; et al.
    In: New Aspects of Si-and Ge-based Materials and Devices, Jg. 15 (2012), Heft 6, S. 588-600
    academicJournal
  16. TABATABAEI, Salomeh ; KUMAR, Ashavani ; et al.
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 52 (2012), Heft 11, S. 2685-2689
    academicJournal
  17. MESGARI, Sara ; YIN FUN, POON ; et al.
    In: Journal of physical chemistry. C, Jg. 116 (2012), Heft 18, S. 10266-10273
    academicJournal
  18. AZIMI, Hamed ; FOURNIER, Darcy ; et al.
    In: Organic electronics (Print), Jg. 13 (2012), Heft 8, S. 1315-1321
    academicJournal
  19. YI, LIU ; YU, Ling-Min ; et al.
    In: Journal of solid state chemistry (Print), Jg. 191 (2012), S. 283-286
    academicJournal
  20. RAMESH, Anisha ; GROWDEN, Tyler A ; et al.
    In: I.E.E.E. transactions on electron devices, Jg. 59 (2012), Heft 3, S. 602-609
    Online academicJournal
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