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  1. Chang, W. ; Yang, C. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 71 (2024-05-01), Heft 5, S. 2863-2868
    Online academicJournal
  2. Kerber, A. ; Nigam, T. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, Jg. 20 (2020-06-01), Heft 2, S. 230-241
    Online academicJournal
  3. Chiang, T.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016-08-01), Heft 8, S. 3354-3359
    Online academicJournal
  4. Ding, Yaru ; Liu, Wei ; et al.
    In: 2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2022-03-01, S. 1
    Konferenz
  5. Chenouf, Amel ; Djezzar, Boualem ; et al.
    In: 2012 24th International Conference on Microelectronics (ICM), 2012-12-01, S. 1-4
    Konferenz
  6. Chenouf, Amel ; Djezzar, Boualem ; et al.
    In: 2012 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report, 2012-10-01, S. 191-194
    Konferenz
  7. Martin-Martinez, J. ; Amat, E. ; et al.
    In: Proceedings of the 8th Spanish Conference on Electron Devices, CDE'2011, 2011-02-01, S. 1-4
    Konferenz
  8. Calhoun, B.H. ; Chandrakasan, A.
    In: 2006 IEEE International Solid State Circuits Conference - Digest of Technical Papers, Solid-State Circuits Conference, 2006. ISSCC, 2006, S. 2592-2601
    Konferenz
  9. Pattanaik, M. ; Banerjee, S.
    In: 16th International Conference on VLSI Design,, 2003, S. 116-121
    Konferenz
  10. Mansour, Makram M. ; Mansour, Mohammad M. ; et al.
    In: IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI,, 2003, S. 62-69
    Konferenz
  11. Hernandez, M.A. ; Aranda, M.L.
    In: 2005 2nd International Conference on Electrical and Electronics Engineering, 2005, S. 243-246
    Konferenz
  12. Toyota, Y. ; Matsumura, M. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 57 (2010-02-01), Heft 2, S. 429-436
    Online academicJournal
  13. Kabbani, A. ; Al-Khalili, D. ; et al.
    In: 2003 46th Midwest Symposium on Circuits and Systems, Jg. 3 (2003), S. 1465-1468
    Konferenz
  14. Chen, W. ; Wang, M. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 60 (2013), Heft 1, S. 295-300
    Online academicJournal
  15. Ghani, T. ; Ahmed, S. ; et al.
    In: International Electron Devices Meeting 1999. Technical Digest (Cat. No.99CH36318), 1999, S. 415-418
    Konferenz
  16. Dhaou, I.B. ; Tenhunen, H. ; et al.
    In: ISCAS 2001. The 2001 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (Cat. No.01CH37196), Jg. 5 (2001), S. 411-414
    Konferenz
  17. Martin-Martinez, J. ; Gerardin, S. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 56 (2009-09-01), Heft 9, S. 2155-2159
    Online academicJournal
  18. Adler, V. ; Friedman, E.G.
    In: 1996 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), Jg. 4 (1996), S. 101-104
    Konferenz
  19. Hsu, H. M. ; Lee, T. H.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 29 (2008-04-01), Heft 4, S. 392-395
    Online academicJournal
  20. Yeoh, Teong-San ; Hu, Shze-Jer
    In: Proceedings of 5th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 1995, S. 149-154
    Konferenz
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