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In: IEEE electron device letters, Jg. 35 (2014), Heft 4, S. 431-433Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE electron device letters, Jg. 35 (2014), Heft 7, S. 696-698Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE electron device letters, Jg. 28 (2007), Heft 6, S. 495-498Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE electron device letters, Jg. 28 (2007), Heft 11, S. 1021-1024Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE electron device letters, Jg. 29 (2008), Heft 9, S. 994-997Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE electron device letters, Jg. 35 (2014), Heft 1, S. 120-122Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE electron device letters, Jg. 34 (2013), Heft 2, S. 307-309Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE electron device letters, Jg. 33 (2012), Heft 8, S. 1204-1206Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE electron device letters, Jg. 33 (2012), Heft 5, S. 721-723Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE electron device letters, Jg. 29 (2008), Heft 1, S. 102-105Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE electron device letters, Jg. 34 (2013), Heft 10, S. 1334-1336Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE electron device letters, Jg. 32 (2011), Heft 8, S. 1011-1013Online academicJournalZugriff: