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    High spatial resolution neutron detection technique based on Commercial Off-The-Shelf CMOS image sensors covered with NaGdF_4 nanoparticles
    M. Gómez Berisso ; Lipovetzky, Jose ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 16 (2021-08-01), S. P08008
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    Prototype of simultaneous bidirectional data-transmitter in 65 nm CMOS
    Krüger, Hans ; Kishishita, T.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 16 (2021-06-01), S. T06002
    Online unknown
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    High performance infrared detectors compatible with CMOS-circuit process*
    Dai, Ning ; Wang, Chao ; et al.
    In: Chinese Physics B, Jg. 30 (2021-05-01), S. 050702-50702
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    Three-dimensional cascaded system analysis of a 50µm pixel pitch wafer-scale CMOS active pixel sensor x-ray detector for digital breast tomosynthesis
    Kanicki, Jerzy ; Zhao, Chumin ; et al.
    In: Physics in Medicine and Biology, Jg. 62 (2017-02-13), S. 1994-2017
    Online unknown
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    Radiation hard DMAPS pixel sensors in 150 nm CMOS technology for operation at LHC
    Schwemling, Ph. ; Hügging, Fabian ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 15 (2020-05-22), S. P05013
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    Design of ePixM, a fully-depleted monolithic CMOS active pixel sensor for soft X-ray experiments at LCLS-II
    Tamma, C. ; Kenney, C.J. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 14 (2019-12-13), S. C12014
    Online unknown
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    Design of weak signal detection circuit of CMOS detector with large dynamic range by twice sampling method
    Weiming, Wang ; Xiangdong, Luo ; et al.
    In: Journal of Physics: Conference Series, Jg. 1325 (2019-10-01), S. 012223-12223
    Online unknown
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    Development of FELIX based readout system for HV-CMOS sensor testbeam
    M. Vicente Barrero Pinto ; Chen, Kai ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 14 (2019-01-10), S. P01013
    Online unknown
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    Charge collection characterisation with the Transient Current Technique of the ams H35DEMO CMOS detector after proton irradiation
    Golling, Tobias ; Kiehn, Moritz ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 13 (2018-10-01), S. P10004
    Online unknown
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    Use of a CMOS image sensor for beta-emitting radionuclide measurements
    Collamati, Francesco ; Biasini, Maurizio ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 13 (2018-07-02), S. P07003
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    Report on recent activities in HV-CMOS detectors for Mu3e, ATLAS and RD50
    Alonso, Oscar ; Vossebeld, Joost ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 13 (2018-07-16), S. C07002
    Online unknown
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    Resolution Properties of a Calcium Tungstate (CaWO4) Screen Coupled to a CMOS Imaging Detector
    Bakas, Athanasios ; Kalyvas, Nektarios ; et al.
    In: Journal of Physics: Conference Series, Jg. 931 (2017-11-01), S. 012027-12027
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    First results on DEPFET Active Pixel Sensors fabricated in a CMOS foundry—a promising approach for new detector development and scientific instrumentation
    Majewski, P. ; Holl, P. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 12 (2017-11-16), S. P11013
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    Radiation-hard Active Pixel Sensors for HL-LHC Detector Upgrades based on HV-CMOS Technology
    Miucci, A ; Gonella, L ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 9 (2014-05-30), S. C05064
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    Investigation of CMOS pixel sensor with 0.18 μm CMOS technology for high-precision tracking detector
    Zhang, Y. ; Yan, W. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 12 (2017-01-02), S. C01011
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Performance enhancement of CMOS terahertz detector by drain current *
    Liao, Yiming ; Zhang, Xingxing ; et al.
    In: Chinese Physics B, Jg. 26 (2017-08-01), S. 098401-98401
    Online unknown
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Intrapixel effects of CCD and CMOS detectors
    Zhang, Xin ; Cao, L. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 12 (2017-04-10), S. C04010
    Online unknown
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Design and Implementation of Hybrid Multiple Valued Logic Error Detector using Single Electron Transistor and CMOS at 120nm Technology
    Dakhole, Pravin ; Raut, Vaishali
    In: IOP Conference Series: Materials Science and Engineering, Jg. 225 (2017-08-01), S. 012160-12160
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    First-ever test and characterization of the AMS standard bulk 0.35 μm CMOS technology at sub-kelvin temperatures
    Rhouni, A ; Reveret, V. ; et al.
    In: Journal of Physics: Conference Series, Jg. 834 (2017-05-02), S. 012005-12005
    Online unknown
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    Cryogenic CMOS cameras for high voltage monitoring in liquid argon
    Spooner, N. J. C. ; McConkey, N. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 12 (2017-03-16), S. P03014
    Online unknown
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