Suchergebnisse
UB Katalog
Artikel & mehr
Suchmaske
Suchergebnisse einschränken oder erweitern
Aktive Suchfilter
Weniger Treffer
Gefunden in
Art der Quelle
Schlagwort
- metal oxide semiconductors, complementary 21 Treffer
- complementary metal oxide semiconductors 16 Treffer
- atomic layer deposition 8 Treffer
- silicon 7 Treffer
- optical sensors 6 Treffer
-
45 weitere Werte:
- cmos 5 Treffer
- semiconductors 5 Treffer
- silica 5 Treffer
- conduction bands 4 Treffer
- dielectric devices 4 Treffer
- dielectric films 4 Treffer
- electric capacity 4 Treffer
- hafnium 4 Treffer
- metal oxide semiconductors 4 Treffer
- oxides 4 Treffer
- silicon oxide 4 Treffer
- ceramics 3 Treffer
- digital electronics 3 Treffer
- emissivity 3 Treffer
- energy dissipation 3 Treffer
- ferroelectric thin films 3 Treffer
- ferroelectricity 3 Treffer
- field emission 3 Treffer
- films 3 Treffer
- fowler-nordheim effect 3 Treffer
- gate array circuits 3 Treffer
- heterostructures 3 Treffer
- ion scattering 3 Treffer
- logic circuits 3 Treffer
- magnetic resonance 3 Treffer
- manufacturing processes 3 Treffer
- metal insulator semiconductors 3 Treffer
- molecular beams 3 Treffer
- moore's law 3 Treffer
- mosfets 3 Treffer
- nanoparticles 3 Treffer
- optical constants 3 Treffer
- optical properties 3 Treffer
- photodetectors 3 Treffer
- photoelectrons 3 Treffer
- plasmonics 3 Treffer
- platinum nanoparticles 3 Treffer
- platinum spectra 3 Treffer
- random access memory 3 Treffer
- resonators 3 Treffer
- spectrum analysis 3 Treffer
- thin films 3 Treffer
- transmission electron microscopy 3 Treffer
- zirconium oxide 3 Treffer
- annealing of crystals 2 Treffer
Verlag
Sprache
52 Treffer
-
In: Journal of Applied Physics, Jg. 89 (2001-05-15), Heft 10, S. 5243-5275Online academicJournalZugriff:
-
In: Journal of Applied Physics, Jg. 127 (2020-01-21), Heft 3, S. 1-8Online academicJournalZugriff:
-
In: Journal of Applied Physics, Jg. 100 (2006-09-01), Heft 5, S. 51614-51628Online academicJournalZugriff:
-
In: Journal of Applied Physics, Jg. 118 (2015-10-07), Heft 13, S. 134504-1- (11S.)Online academicJournalZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!academicJournalZugriff:
-
In: Journal of Applied Physics, Jg. 110 (2011-10-15), Heft 8, S. 084907-84907Online academicJournalZugriff:
-
In: Journal of Applied Physics, Jg. 105 (2009-02-01), Heft 3, S. 034103-34103Online academicJournalZugriff:
-
In: Journal of Applied Physics, Jg. 108 (2010-10-15), Heft 4, S. 54107-1- (7S.)Online academicJournalZugriff:
-
In: Journal of Applied Physics, Jg. 107 (2010-01-15), Heft 2, S. 24501-1- (4S.)Online academicJournalZugriff:
-
Atomic scale characterization of HfO2/Al2O3 thin films grown on nitrided and oxidized Si substrates.In: Journal of Applied Physics, Jg. 96 (2004-12-01), Heft 11, S. 6113-6119Online academicJournalZugriff:
-
In: Journal of Applied Physics, Jg. 96 (2004-08-01), Heft 3, S. 1547-1555Online academicJournalZugriff:
-
In: Journal of Applied Physics, Jg. 92 (2002-12-15), Heft 12, S. 7257-7260Online academicJournalZugriff:
-
In: Journal of Applied Physics, Jg. 92 (2002-08-01), Heft 3, S. 1232-1237Online academicJournalZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!academicJournalZugriff:
-
In: Journal of Applied Physics, Jg. 78 (1995-09-01), S. 2906-2912Online academicJournalZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!academicJournalZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!academicJournalZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!academicJournalZugriff:
-
In: Journal of Applied Physics, Jg. 104 (2008-12-15), Heft 12, S. 124111-124111Online academicJournalZugriff:
-
In: Journal of Applied Physics, Jg. 113 (2013-01-21), Heft 3, S. 034107-34107Online academicJournalZugriff: