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    9.1 µW keyword spotting processor based on optimized MFCC and small‐footprint TENet in 28‐nm CMOS.
    Yu, Haohai ; He, Keyan ; et al.
    In: Electronics Letters (Wiley-Blackwell), Jg. 60 (2024-05-01), Heft 9, S. 1-3
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
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    Integrated Digital and Analog Circuit Blocks in a Scalable Silicon Carbide CMOS Technology.
    Romijn, Joost ; Vollebregt, Sten ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022), Heft 1, S. 4-10
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Design and Implementation of a Single Flux Quantum Logic-Based Memory Controller for Josephson-CMOS Hybrid Memory Systems.
    Demirhan, Seda ; Bozbey, Ali
    In: IEEE Transactions on Applied Superconductivity, Jg. 30 (2020-10-01), Heft 7, S. 1-6
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Fully Depleted MAPS in 110-nm CMOS Process With 100–300-μm Active Substrate.
    Pancheri, Lucio ; Giampaolo, Raffaele A. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 67 (2020-06-01), Heft 6, S. 2393-2399
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Demonstration of a Single-Flux-Quantum Microprocessor Operating With Josephson-CMOS Hybrid Memory.
    Hironaka, Yuki ; Yamanashi, Yuki ; et al.
    In: IEEE Transactions on Applied Superconductivity, Jg. 30 (2020-10-01), Heft 7, S. 1-6
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    A 21-dBm $I/Q$ Digital Transmitter Using Stacked Output Stage in 28-nm Bulk CMOS Technology.
    Gaber, Wagdy M. ; Wambacq, Piet ; et al.
    In: IEEE Transactions on Microwave Theory & Techniques, Jg. 65 (2017-11-01), Heft 11, S. 4744-4757
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    High-Performance CMOS Latch Designs for Recovering All Single and Double Node Upsets.
    Guo, Jing ; Liu, Shanshan ; et al.
    In: IEEE Transactions on Aerospace & Electronic Systems, Jg. 57 (2021-12-01), Heft 6, S. 4401-4415
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Performance Potential of Ge CMOS Technology From a Material-Device-Circuit Perspective.
    Shin, Sang ; Hoon ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 65 (2018-05-01), Heft 5, S. 1679-1684
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    A Tileable CMOS X-Ray Line Detector Using Time-Delay-Integration With Pseudomultisampling for Large-Sized Dental X-Ray Imaging Systems.
    Jo, Yun-Rae ; Hong, Seong-Kwan ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017), Heft 1, S. 211-216
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    An Injection-Locked Power Up-Converter in 65-nm CMOS for Cellular Applications.
    Lindstrand, Jonas ; Tormanen, Markus ; et al.
    In: IEEE Transactions on Microwave Theory & Techniques, Jg. 67 (2019-03-01), Heft 3, S. 1065-1077
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Radiation and High-Voltage Tolerant Space CAN Driver in Standard Low-Voltage 3.3-V CMOS Technology.
    Jansen, R. J. E. ; Lindner, S. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 64 (2017-08-01), Heft 8 Part 1, S. 2204-2211
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Characteristics of Stacked Gate-All-Around Si Nanosheet MOSFETs With Metal Sidewall Source/Drain and Their Impacts on CMOS Circuit Properties.
    Sung, Wen-Li ; Li, Yiming
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-06-01), Heft 6, S. 3124-3128
    Online academicJournal
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Low‐leakage zero‐static power consumption analogue CMOS switch.
    Sciortino, Giuseppe ; Mesri, Alireza ; et al.
    In: Electronics Letters (Wiley-Blackwell), Jg. 57 (2021-06-15), Heft 13, S. 502-504
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
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    Logic-I/O Threshold Comparing $\gamma$-Dosimeter in Radiation Insensitive Deep-Sub-Micron CMOS.
    Tang, Adrian ; Kim, Yangyho ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 63 (2016-04-20), Heft 2c, S. 1247-1250
    Online academicJournal
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Optimum pMOS-to-nMOS Width Ratio for Efficient Subthreshold CMOS Circuits.
    Nabavi, Morteza ; Ramezankhani, Farhad ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016-03-01), Heft 3, S. 916-924
    Online academicJournal
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    A Low-Noise and Area-Efficient PWM- $\Delta \Sigma $ ADC Using a Single-Slope Quantizer for CMOS Image Sensors.
    Jo, Yun-Rae ; Hong, Seong-Kwan ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016), Heft 1, S. 168-173
    Online academicJournal
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    Volltext
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Integration of Mixed-Signal Elements into a High-Performance Digital CMOS Process.
    Kuhn, Kelin J. ; Ahmed, Shahriar ; et al.
    In: Intel Technology Journal, Jg. 6 (2002-05-16), Heft 2, S. 31-41
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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    Parasitic Gate Resistance Impact on Triple-Gate FinFET CMOS Inverter.
    Solis Avila, Edgar ; Tinoco, Julio C. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016-07-01), Heft 7, S. 2635-2642
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    A Theory of Multiplication Noise for Electron Multiplying CMOS Image Sensors.
    Brugiere, Timothee ; Mayer, Frederic ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 61 (2014-07-01), Heft 7, S. 2412-2418
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    PRODUCTS.
    In: Vision Systems Design, Jg. 25 (2020-07-01), Heft 6, S. 24-28
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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