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    Impact of nitrogen post deposition annealing on hafnium zirconate dielectrics for 32 nm high- performance SOI CMOS technologies
    KELWING, T ; NAUMANN, A ; et al.
    In: Microelectronic engineering, Jg. 88 (2011), Heft 2, S. 141-144
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Very low drift and high sensitivity of nanocrystal-TiO2 sensing membrane on pH-ISFET fabricated by CMOS compatible process
    BUNJONGPRU, W ; SUNGTHONG, A ; et al.
    In: Applied surface science, Jg. 267 (2013), S. 206-211
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Interface and plasma damage analysis of PEALD TaCN deposited on HfO2 for advanced CMOS studied by angle resolved XPS and C-V
    PIALLAT, Fabien ; BEUGIN, Virginie ; et al.
    In: Applied surface science, Jg. 303 (2014), S. 388-392
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Organic integrated circuits using room-temperature sintered silver nanoparticles as printed electrodes
    FUKUDA, Kenjiro ; SEKINE, Tomohito ; et al.
    In: Organic electronics (Print), Jg. 13 (2012), Heft 12, S. 3296-3301
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Defect density reduction of the Al2O3/GaAs(001) interface by using H2S molecular beam passivation
    MERCKLING, C ; CHANG, Y. C ; et al.
    In: Surface science, Jg. 605 (2011), Heft 19-20, S. 1778-1783
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    In situ preparation of high dielectric constant, low-loss ferroelectric BaTiO3 films on Si at 500 °C
    MEILING, YUAN ; WEI, ZHANG ; et al.
    In: Applied surface science, Jg. 270 (2013), S. 319-323
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Probing buried interfaces on Ge-based metal gate/high-k stacks by hard X-ray photoelectron spectroscopy
    RUBIO-ZUAZO, J ; MARTINEZ, E ; et al.
    In: Applied surface science, Jg. 257 (2011), Heft 7, S. 3007-3013
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Annealing effects on the composition and disorder of Ga(N,As,P) quantum wells on silicon substrates for laser application
    GIES, S ; ZIMPRICH, M ; et al.
    In: Journal of crystal growth, Jg. 402 (2014), S. 169-174
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Synthesis of metal-incorporated graphitic microporous carbon terminated with highly-ordered graphene walls—Controlling the number of graphene layers by ambient-temperature metal sputtering
    ARGHYA NARAYAN, BANERJEE ; MIN, Bong-Ki ; et al.
    In: Applied surface science, Jg. 268 (2013), S. 588-600
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Effects of composition and thickness of TiN metal gate on the equivalent oxide thickness and flat-band voltage in metal oxide semiconductor devices
    LEE, Seok-Hee ; CHOI, Rino ; et al.
    In: Insulating Films on Semiconductors 2013, Jg. 109 (2013), S. 160-162
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Electrochromic performance, wettability and optical study of copper manganese oxide thin films: Effect of annealing temperature
    FALAHATGAR, S. S ; GHODSI, F. E ; et al.
    In: Applied surface science, Jg. 289 (2014), S. 289-299
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Magnetic dipolar coupling and collective effects for binary information codification in cost-effective logic devices
    CHIOLERIO, Alessandro ; ALLIA, Paolo ; et al.
    In: Journal of magnetism and magnetic materials, Jg. 324 (2012), Heft 19, S. 3006-3012
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Micro-capacitors based on electrochemically grown vertical arrays of gold nanowires as electrodes
    CHOI, D. S ; PARK, Jung-Rae ; et al.
    In: Thin solid films, Jg. 518 (2010), Heft 17, S. 5007-5009
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Highly reliable molecular-pore-stacking (MPS)/Cu interconnects featuring best combination of post-etching treatment and resputtering processes
    OSHIDA, Daisuke ; KUME, Ippei ; et al.
    In: Microelectronic engineering, Jg. 118 (2014), S. 72-78
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Ge2Sb2Te5/SnSe2 nanocomposite multilayer thin films for phase change memory application
    XIAOYI, FENG ; TING, WEN ; et al.
    In: Applied surface science, Jg. 316 (2014), S. 286-291
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Formation of amorphous Yb2O3/crystalline ZrTiO4 gate stack and its application in n-MOSFET with sub-nm EOT
    LIN, Chia-Chun ; WU, Yung-Hsien ; et al.
    In: Applied surface science, Jg. 299 (2014), S. 47-51
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Interfacial trap characteristics in depletion mode GaAs MOSFETs
    LEE, T. C ; CHAN, C. Y ; et al.
    In: 14th International Conference on Molecular Beam Epitaxy (MBE-XIV), 3-8 September 2006, Tokyo, Japan, Jg. 301-302 (2007), S. 1009-1012
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    MBE-grown high κ gate dielectrics of HfO2 and (Hf-Al)O2 for si and III-V semiconductors nano-electronics
    LEE, W. C ; LEE, Y. J ; et al.
    In: MBE XIII, 2004: 13th International Conference on Molecular Beam Epitaxy, Edinburgh, UK, 22-27 August 2004, Jg. 278 (2005), Heft 1-4, S. 619-623
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Deposition and characterization of zirconium tin titanate thin films as a potential high-k material for electronic devices
    MAYS, F. L ; HESS, Dennis W ; et al.
    In: OMVPE-11: proceedings of the 11th Biennial (US) Workshop on Organometallic Vapor Phase Epitaxy, held jointly with the 15th American Conference on Crystal Growth and Epitaxy and the 3rd International Symposium on Laser and NLO Materials, 20-24 July 2003, Keystone, Colorado, Jg. 261 (2004), Heft 2-3, S. 309-315
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Identification of the (√E + 1/E)-dependence of porous low-k time dependent dielectric breakdown using over one year long package level tests
    CHERY, E ; FEDERSPIEL, X ; et al.
    In: Insulating Films on Semiconductors 2013, Jg. 109 (2013), S. 90-93
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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