Suchergebnisse
UB Katalog
Artikel & mehr
Suchmaske
Suchergebnisse einschränken oder erweitern
Aktive Suchfilter
Weniger Treffer
Gefunden in
Art der Quelle
Schlagwort
- stress 3 Treffer
- ac 2 Treffer
- bti 2 Treffer
- cmos 2 Treffer
- complementary metal oxide semiconductors 2 Treffer
-
27 weitere Werte:
- current measurement 2 Treffer
- degradation 2 Treffer
- dielectric breakdown 2 Treffer
- direct currents 2 Treffer
- electric potential measurement 2 Treffer
- field-effect transistors 2 Treffer
- gain 2 Treffer
- hkmg 2 Treffer
- inverter 2 Treffer
- logic circuits 2 Treffer
- off-state 2 Treffer
- performance evaluation 2 Treffer
- power amplifiers 2 Treffer
- power gain 2 Treffer
- radio frequency 2 Treffer
- tddb 2 Treffer
- transistors 2 Treffer
- voltage measurement 2 Treffer
- atomic force microscopes 1 Treffer
- electric conductivity 1 Treffer
- gate oxide breakdown 1 Treffer
- hafnium compounds 1 Treffer
- lighting 1 Treffer
- percolation 1 Treffer
- probes 1 Treffer
- reliability 1 Treffer
- time dependent dielectric breakdown 1 Treffer
Sprache
3 Treffer
-
In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 36 (2015-05-01), Heft 5, S. 430-432Online academicJournalZugriff:
-
In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 36 (2015-08-01), Heft 8, S. 748-750Online academicJournalZugriff:
-
In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 37 (2016-10-01), Heft 10, S. 1321-1323Online academicJournalZugriff: