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In: Microelectronics Reliability, Jg. 53 (2013-02-01), Heft 2, S. 196-204academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics Reliability, Jg. 53 (2013-02-01), Heft 2, S. 196-204academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics Reliability, Jg. 43 (2003-07-01), Heft 7, S. 1029-1037academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics Reliability, Jg. 53 (2013-02-01), Heft 2, S. 215-220academicJournalZugriff: