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    Tradeoffs Between RF Performance and SET Robustness in Low-Noise Amplifiers in a Complementary SiGe BiCMOS Platform
    Lourenco, Nelson E. ; Fleetwood, Zachary E. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 67 (2020-07-01), S. 1521-1529
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    Utilizing SiGe HBT Power Detectors for Sensing Single-Event Transients in RF Circuits
    Ildefonso, Adrian ; Coen, Christopher T. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 65 (2018), S. 239-248
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    On the Application of Inverse-Mode SiGe HBTs in RF Receivers for the Mitigation of Single-Event Transients
    Paki, Pauline ; Ju, Inchan ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 64 (2017-05-01), S. 1142-1150
    Online unknown
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    The Use of Inverse-Mode SiGe HBTs as Active Gain Stages in Low-Noise Amplifiers for the Mitigation of Single-Event Transients
    McMorrow, Dale ; Lourenco, Nelson E. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 64 (2017), S. 359-366
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    An Investigation of Single-Event Effect Modeling Techniques for a SiGe RF Low-Noise Amplifier
    Khachatrian, Ani ; Lourenco, Nelson E. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 63 (2016-02-01), S. 273-280
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    Design of Radiation-Hardened RF Low-Noise Amplifiers Using Inverse-Mode SiGe HBTs
    Lourenco, Nelson E. ; Cressler, John D. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 61 (2014-12-01), S. 3218-3225
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    Mitigation of Total Dose Performance Degradation in an 8–18 GHz SiGe Reconfigurable Receiver
    Saha, Prabir ; Cressler, John D. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 61 (2014-12-01), S. 3226-3235
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    An 8–16 GHz SiGe Low Noise Amplifier With Performance Tuning Capability for Mitigation of Radiation-Induced Performance Loss
    England, Troy D. ; Cressler, John D. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 59 (2012-12-01), S. 2837-2846
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    A TID and SEE Radiation-Hardened, Wideband, Low-Noise Amplifier
    Linscott, Ivan ; Roeder, J.L. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 53 (2006-12-01), S. 3439-3448
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    Quantum Efficiency Measurements of Windowless Electron Multipliers to Heavy High Energy Particles
    Cho, Zang-Hee ; Sackerlotzky, O. H. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 22 (1975), S. 121-126
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    Radiation-Hardened CMOS/SOS LSI Circuits
    Shumake, D. P. ; Peterson, H. T. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 23 (1976), S. 1613-1616
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