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    Programmable Gates Using Hybrid CMOS-STT Design to Prevent IC Reverse Engineering
    Winograd, Ted ; Mahmoodi, Hamid ; et al.
    In: ACM Transactions on Design Automation of Electronic Systems, Jg. 23 (2018-11-30), S. 1-21
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    A Comprehensive Time-Dependent Dielectric Breakdown Lifetime Simulator for Both Traditional CMOS and FinFET Technology
    Liu, Taizhi ; Zhang, Rui ; et al.
    In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 26 (2018-11-01), S. 2470-2482
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    Electrical characterization and reliability of submicron SOI CMOS technology in the extended temperature range (to 300 °C)
    Safonov, Sergey O. ; Stakhin, Veniamin G. ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 79 (2017-12-01), S. 416-425
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    Skybridge-3D-CMOS: A Fine-Grained 3D CMOS Integrated Circuit Technology
    Rahman, Mostafizur ; Shi, Jiajun ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nanotechnology, Jg. 16 (2017-07-01), S. 639-652
    Online unknown
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    A System for Logical Design of Custom CMOS VLSI Functional Blocks with Reduced Power Consumption
    Kardash, S. N. ; Yu. Yu. Lankevich ; et al.
    In: Russian Microelectronics, Jg. 47 (2018), S. 65-81
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    Simulation, characterization and implementation of a new SCR-based device with a turn-off capability for EOS-immune ESD power supply clamps in advanced CMOS technology nodes
    Guitard, Nicolas ; Galy, Philippe ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 85 (2018-06-01), S. 176-189
    Online unknown
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    Contemporary CMOS aging mitigation techniques: Survey, taxonomy, and methods
    Tahoori, Mehdi B. ; Khoshavi, Navid ; et al.
    In: Integration, Jg. 59 (2017-09-01), S. 10-22
    Online unknown
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    Aging comparative analysis of high-performance FinFET and CMOS flip-flops
    Rahebeh Niaraki Asli ; Taghipour, Shiva
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 69 (2017-02-01), S. 52-59
    Online unknown
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    Single event multiple upset-tolerant SRAM cell designs for nano-scale CMOS technology
    Rajaei, Ramin ; Asgari, Bahar ; et al.
    In: TURKISH JOURNAL OF ELECTRICAL ENGINEERING & COMPUTER SCIENCES, Jg. 25 (2017), S. 1035-1047
    Online unknown
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    Volltext (PDF)
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    Design of an MTJ/CMOS-Based Asynchronous System for Ultra-Low Power Energy Autonomous Applications
    Srivastava, Arush ; Gurunarayanan, S. ; et al.
    In: Journal of Circuits, Systems and Computers, Jg. 30 (2020-08-22), S. 2150058-2150058
    Online unknown
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    Ultra-low swing CMOS transceiver for 2.5-D integrated systems
    Pavlidis, Vasilis F. ; Mroszczyk, Przemyslaw
    In: 2018 19th International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 2018
    Online unknown
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Monitor-Based In-Field Wearout Mitigation for CMOS LC Oscillators
    Ozev, Sule ; Kiaei, Sayfe ; et al.
    In: IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, Jg. 16 (2016-06-01), S. 183-193
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    On-chip High-voltage Silicon Photovoltaic Cell Array Made by a CMOS Post-processed Device Isolation Method for Driving a MEMS Actuator in a Remote Manner
    Kubota, Masanori ; Lebrasseur, Eric ; et al.
    In: IEEJ Transactions on Sensors and Micromachines, Jg. 136 (2016), S. 24-30
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    Comparison of TFETs and CMOS using optimal design points for power-speed trade-offs
    Avedillo, Maria J. ; Núñez, Juan ; et al.
    2017
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    Fully integrable current-mode feedback suppressor as an analog countermeasure against CPA attacks in 40nm CMOS technology
    Scotti, Giuseppe ; Trifiletti, Alessandro ; et al.
    2017
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    Majority-Based Spin-CMOS Primitives for Approximate Computing
    Angizi, Shaahin ; Jiang, Honglan ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nanotechnology, 2018, S. 1-1
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    Improving the ability of Bulk Built-In Current Sensors to detect Single Event Effects by using triple-well CMOS
    Rodrigo Possamai Bastos ; Potin, Olivier ; et al.
    2014
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Novel Radiation-Hardened-by-Design (RHBD) 12T Memory Cell for Aerospace Applications in Nanoscale CMOS Technology
    Liu, Shanshan ; Guo, Jing ; et al.
    In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 25 (2017-05-01), S. 1593-1600
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    High-stage analog accumulator for TDI CMOS image sensors
    Fujun, Huang ; Yong, Zong ; et al.
    In: Journal of Semiconductors, Jg. 37 (2016-02-01), S. 025001-25001
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    Field-Free 3T2SOT MRAM for Non-Volatile Cache Memories
    Zhang, Youguang ; Wang, Ying ; et al.
    In: IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers, Jg. 67 (2020-12-01), S. 4660-4669
    Online unknown
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