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    Realization of Three-Dimensionally MEMS Stacked Comb Structures for Microactuators Using Low-Temperature Multi-Wafer Bonding with Self-Alignment Techniques in CMOS-Compatible Processes
    Teo, Adrian J. T. ; King Ho Holden Li ; et al.
    In: Micromachines, Jg. 12 (2021-11-01), Heft 1481
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    CMOS back-end-of-line compatible ferroelectric tunnel junction devices
    Holzer, Marco ; Dubourdieu, Catherine ; et al.
    2021
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    Fabrication of CMOS Invertors in Si Thin-Film-Transistors by Laser Doping Using a Chemical Solution Coating
    Goto, Tetsuya ; Suwa, Akira ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 8 (2020), S. 27-32
    Online unknown
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    Evaluation of the Radiation Hardness of Photodiodes in 180-nm CMOS Technology for Medical Applications
    Suligoj, Tomislav ; Meinhardt, Gerald ; et al.
    2021
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    Single-Crystalline Si-CMOS Circuit Fabrication on Polyethylene Terephthalate Substrate by Meniscus Force-Mediated Layer Transfer
    Mizukami, Ryutatsu ; Hanafusa, Hiroaki ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 7 (2019), S. 943-948
    Online unknown
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    An Efficient Forward-Biased Si CMOS LED With High Optical Power Density and Nonlinear Optical-Power-Current Characteristic
    Guo, Weilian ; Cong, Jia ; et al.
    In: IEEE Photonics Journal, Jg. 11 (2019), Heft 2, S. 1-10
    Online unknown
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    Total-Ionizing-Dose Response of Highly Scaled Gate-All-Around Si Nanowire CMOS Transistors
    Wang, Pan ; Mitard, Jerome ; et al.
    2021
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    Characterization and Modeling of Self-Heating in Nanometer Bulk-CMOS at Cryogenic Temperatures
    Babaie, Masoud ; P. A. 't Hart ; et al.
    2021
    Online unknown
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    A Scalable and Low Stress Post-CMOS Processing Technique for Implantable Microsensors
    Leung, Vincent W. ; Nurmikko, Arto V. ; et al.
    In: Micromachines, 2020-10-05
    Online unknown
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    InGaAs FinFETs 3-D Sequentially Integrated on FDSOI Si CMOS With Record Performance
    Caimi, Daniele ; Sousa, Marilyne ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 7 (2019), S. 1170-1174
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    Wavelength dependence of silicon avalanche photodiode fabricated by CMOS process
    Hishiki, Takuya ; Iiyama, Koichi ; et al.
    In: Optics and Laser Technology, Jg. 92 (2017-07-01), S. 193-197
    Online unknown
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    A CMOS Data Transfer System Based on Planar RF Coupling for Reinforced Galvanic Isolation with 25-kV Surge Voltage and 250-kV/µs CMTI
    Palmisano, Giuseppe ; Ragonese, Egidio ; et al.
    In: Electronics, Jg. 9 (2020-06-01), Heft 943
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    Ge FinFET CMOS Inverters With Improved Channel Surface Roughness by Using In-Situ ALD Digital O3 Treatment
    Luo, G.-L. ; Hong, T.-C. ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 6 (2018), S. 1227-1232
    Online unknown
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    Miniaturized Continuous-Flow Digital PCR for Clinical-Level Serum Sample Based on the 3D Microfluidics and CMOS Imaging Device
    Li, Yuanming ; Li, Bin ; et al.
    In: Sensors, Jg. 20 (2020-04-01), Heft 2492
    Online unknown
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    High Temperature Characterization of a CMOS Based Infra-red Source using Thermal-incandescence Microscopy
    Pandey, Prakash ; Udrea, Florin ; et al.
    2020
    Online unknown
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    Monitoring the Whole Cycle Length Change of Cement Mortar Incorporated with SRA by CMOS Image Sensor
    Lu, Shuang ; Yao, Yan ; et al.
    In: Sensors, 2020-01-14
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    Volltext (PDF)
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    On border traps in back-side-illuminated CMOS image sensor oxides
    Irrera, Fernanda ; Vici, Andrea ; et al.
    2020
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    A 30.1 mW/µm2 SiGe:C HBT featuring an implanted collector in a 55-nm CMOS node
    Gaquiere, Christophe ; Gauthier, Alexis ; et al.
    2020
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    Gettering Sinks for Metallic Impurities Formed by Carbon-Cluster Ion Implantation in Epitaxial Silicon Wafers for CMOS Image Sensor
    Sueoka, Koji ; Hirose, Ryo ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 6 (2018), S. 1200-1206
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    Proximity Gettering Design of Hydrocarbon–Molecular–Ion–Implanted Silicon Wafers Using Dark Current Spectroscopy for CMOS Image Sensors
    Shigematsu, Satoshi ; Okuyama, Ryosuke ; et al.
    In: Sensors (Basel, Switzerland), Jg. 19 (2019-05-01), Heft 9
    Online unknown
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