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    Chaotic Oscillations in a CMOS Inverter Coupled With ESD Protection Circuits Under Radio Wave Excitation
    MYUNGHWAN, PARK ; RODGERS, John C ; et al.
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 56 (2014), Heft 3, S. 530-538
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Susceptibility of CMOS Voltage Comparators to Radio Frequency Interference
    FIORI, Franco
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 54 (2012), Heft 2, S. 434-442
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Compact CMOS Miller OpAmp With High EMI-Immunity
    Boyapati, Subrahmanyam ; Gundla, Jagapathi ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 62 (2020-12-01), S. 2394-2400
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Study of Basic Effects of HPM Pulses in Digital CMOS Integrated Circuit Inputs
    HOLLOWAY, Michael A ; DILLI, Zeynep ; et al.
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 54 (2012), Heft 5, S. 1017-1027
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Increasing EMI Immunity in Novel Low-Voltage CMOS OpAmps
    RICHELLI, Anna
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 54 (2012), Heft 4, S. 947-950
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Transient-to-Digital Converter for System-Level Electrostatic Discharge Protection in CMOS ICs
    KER, Ming-Dou ; YEN, Cheng-Cheng
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 51 (2009), Heft 3, S. 620-630
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Generic and Accurate Whitebox Behavioral Model for Fast Simulation of Analog Effects in Nanometer CMOS Digital Logic Circuits
    LOECKX, Johan ; GIELEN, Georges G. E
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 51 (2009), Heft 2, S. 351-357
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    On-Chip Transient Detection Circuit for System-Level ESD Protection in CMOS Integrated Circuits to Meet Electromagnetic Compatibility Regulation
    KER, Ming-Dou ; YEN, Cheng-Cheng ; et al.
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 50 (2008), Heft 1, S. 13-21
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    CMOS OpAmp Resisting to Large Electromagnetic Interferences
    RICHELLI, Anna
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 52 (2010), Heft 4, S. 1062-1065
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Reduction of EMI susceptibility in CMOS bandgap reference circuits
    PRETELLI, Andrea ; RICHELLI, Anna ; et al.
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 48 (2006), Heft 4, S. 760-765
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Critical Upsets of CMOS Inverters in Static Operation Due to High-Power Microwave Interference
    KIM, Kyechong ; ILIADIS, Agis A
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 49 (2007), Heft 4, S. 876-885
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Impact of microwave interference on dynamic operation and power dissipation of CMOS inverters
    KIM, Kyechong ; ILIADIS, Agis A
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 49 (2007), Heft 2, S. 329-338
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    A new nonlinear model of EMI-induced distortion phenomena in feedback CMOS operational amplifiers
    FIORI, Franco
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 44 (2002), Heft 4, S. 495-502
    Online academicJournal
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Robust design of low EMI susceptibility CMOS opamp
    RICHELLI, Anna ; COLALONGO, Luigi ; et al.
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 46 (2004), Heft 2, S. 291-298
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Characterization and modeling of parasitic emission in deep submicron cmos
    VRIGNON, Bertrand ; DELMAS BENDHIA, Sonia ; et al.
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 47 (2005), Heft 2, S. 382-387
    Online academicJournal
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    CMOS-Based Chaotic PWM Generator for EMI Reduction
    Hong Ge Li ; Jian Wei Liu ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 59 (2017-08-01), S. 1224-1231
    Online unknown
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Design of an EMI Self-Immune VML Transmitter in 0.18-$\mu$ m CMOS
    Matig-a, Gilbert E. ; Redoute, Jean-Michel ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 59 (2017-10-01), S. 1646-1649
    Online unknown
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Investigation on Robustness of CMOS Devices Against Cable Discharge Event (CDE) Under Different Layout Parameters in a Deep-Submicrometer CMOS Technology
    KER, Ming-Dou ; LAI, Tai-Hsiang
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 50 (2008), Heft 4, S. 810-821
    Online academicJournal
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    An EMI-Resistant Common-Mode Cancelation Differential Input Stage in UMC 180 nm CMOS
    Richelli, Anna ; Kennedy, Simon ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 59 (2017-12-01), S. 2049-2051
    Online unknown
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    Frequency-Response-Oriented Design and Optimization of N+ Diffusion Guard Ring in Lightly Doped CMOS Substrate
    Li, Er-Ping ; Yu, Xiaopeng ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 59 (2017-04-01), S. 481-487
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
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