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    The Impact of Holding Voltage of Transient Voltage Suppressor (TVS) on Signal Integrity of Microelectronics System With CMOS ICs Under System-Level ESD and EFT/Burst Tests
    Shen, Yu-Shu ; Ker, Ming-Dou
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-05-01), S. 2152-2159
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    Study on CDM ESD Robustness Among On-Chip Decoupling Capacitors in CMOS Integrated Circuits
    Huang, Yi-Chun ; Ker, Ming-Dou
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 9 (2021), S. 881-890
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    Integrated Digital and Analog Circuit Blocks in a Scalable Silicon Carbide CMOS Technology
    Romijn, Joost ; May, Alexander ; et al.
    2022
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    A Low-Power CMOS Current Reference for Piezoelectric Energy Harvesters
    Karlsen, Haakon ; Li, Ping ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 67 (2020-08-01), S. 3403-3410
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    CMOS-Compatible MESFETs for High Power RF Integrated Circuits
    Lepkowski, William ; Zhang, Xiong ; et al.
    In: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, Jg. 32 (2019-02-01), S. 14-22
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    Monolithic integration of GMR sensors for standard CMOS-IC current sensing
    A. De Marcellis ; Freitas, Paulo P. ; et al.
    In: Solid-State Electronics, Jg. 135 (2017-09-01), S. 100-104
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    Electrical characterization and reliability of submicron SOI CMOS technology in the extended temperature range (to 300 °C)
    Safonov, Sergey O. ; Stakhin, Veniamin G. ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 79 (2017-12-01), S. 416-425
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    Investigation of Unexpected Latchup Path Between HV-LDMOS and LV-CMOS in a 0.25- $\mu \text{m}$ 60-V/5-V BCD Technology
    Dai, Chia-Tsen ; Ker, Ming-Dou
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-08-01), S. 3519-3523
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    A miniaturized multi-clamp CMOS amplifier for intracellular neural recording
    Yuste, Rafael ; M. Angeles Rabadán ; et al.
    In: Nature electronics, Jg. 2 (2019-12-19), Heft 8
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    Flexible Lightweight CMOS-Enabled Multisensory Platform for Plant Microclimate Monitoring
    Shaikh, Sohail F. ; Qaiser, Nadeem ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, 2018, S. 1-7
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    The impact of BTI aging on the reliability of level shifters in nano-scale CMOS technology
    Rossi, Daniele ; Halak, Basel ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 67 (2016-12-01), S. 74-81
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Low-Leakage and Low-Trigger-Voltage SCR Device for ESD Protection in 28-nm High- $k$ Metal Gate CMOS Process
    Lin, Chun-Yu ; Ker, Ming-Dou ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 37 (2016-11-01), S. 1387-1390
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    LCNT-an approach to minimize leakage power in CMOS integrated circuits
    Chaudhury, Saurabh ; Lorenzo, Rohit
    In: Microsystem Technologies, Jg. 23 (2016-05-27), S. 4245-4253
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Integration of GMR-based spin torque oscillators and CMOS circuitry
    Chen, Tingsu ; Rodriguez, Saul ; et al.
    In: Solid-State Electronics, Jg. 111 (2015-09-01), S. 91-99
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    In-Die Through-BEOL Metal Wall for Noise Isolation in 180-nm FD-SOI CMOS
    Li, Cheng ; Chen, Qi ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 38 (2017-05-01), S. 630-632
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    New CMOS readout integrated circuits for future high-performance microbolometric focal plane array
    Lv, Qiang ; Liu, Weidan ; et al.
    In: Optik, Jg. 203 (2020-02-01), S. 163986-163986
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    A High-Efficiency CMOS Power Amplifier Using 2:2 Output Transformer for 802.11n WLAN Applications
    Jeong, Minsu ; Kim, Bo-Eun ; et al.
    In: JSTS:Journal of Semiconductor Technology and Science, Jg. 15 (2015-04-30), S. 280-285
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    New device concepts, transistor architectures and materials for high performance and energy efficient CMOS circuits in the forthcoming era of 3D integrated circuits
    Esseni, David ; Rollo, Tommaso ; et al.
    2018
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    A 128<formula formulatype='inline'><tex Notation='TeX'>$\times$</tex> </formula>96 Pixel CMOS Microdisplay Utilizing Hot Carrier Electroluminescence From Junctions in Reach Through
    Venter, Petrus J. ; Monuko du Plessis
    In: Journal of Display Technology, Jg. 10 (2014-09-01), S. 721-728
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    An Experimental Demonstration of GaN CMOS Technology
    Chen, Mary ; Li, Ray ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 37 (2016-03-01), S. 269-271
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