Zum Hauptinhalt springen
UB Hagen

Suchergebnisse

UB Katalog

Artikel & mehr
3.476 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Aktive Suchfilter

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Gefunden in

Art der Quelle

Schlagwort

Verlag

Publikation

Sprache

Geographischer Bezug

3.476 Treffer

Sortierung: 
  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Improved Optical and ESD Characteristics for GaN-Based LEDs With an $\hbox{n}^{-}\hbox{-GaN}$ Layer
    Chiang, T. H. ; Chiou, Y. Z. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, Jg. 11 (2011-03-01), Heft 1, S. 76-80
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Design-for-Reliability on Thermal Management and ESD Protection of Integrated Circuits
    Li, Cheng
    2021
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in eScholarship (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Radio Frequency Switch Design for 5G Communication and ESD Design on Advanced Technology
    Zhang, Feilong
    2019
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in eScholarship (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    ESD Program Management : A Realistic Approach to Continuous Measurable Improvement in Static Control
    G. Theodore Dangelmayer
    2012
    Online E-Book
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    An ESD-Protected, One-Time Programmable Memory Front-End Circuit for High-Voltage, Silicon-on-Insulator Technology
    Priefert, Dirk ; Boffino, Chiara ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-06-01), S. 2848-2854
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    A Chip-Level CDM ESD Protection Circuit Modeling and Simulation Method and Experimental Verification
    Wang, Han
    2018
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in eScholarship (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    An ESD and Interference-Robust Protection Circuit for Cascode Low-Noise Amplifier in CMOS-SOI Technology
    Kim, Min-Su ; Jhon, Hee-Sauk
    In: IEEE Access, Jg. 9 (2021), S. 75293-75301
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    An on-chip ESD sensor for use in advanced packaging
    Kalappurakal Thankappan, Kannan
    2021
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in eScholarship (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Time Lag of Secondary ESD in Millimeter-Size Spark Gaps
    FAYU, WAN ; PILLA, Viswa ; et al.
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 56 (2014), Heft 1, S. 28-34
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Chaotic Oscillations in a CMOS Inverter Coupled With ESD Protection Circuits Under Radio Wave Excitation
    MYUNGHWAN, PARK ; RODGERS, John C ; et al.
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 56 (2014), Heft 3, S. 530-538
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Study on CDM ESD Robustness Among On-Chip Decoupling Capacitors in CMOS Integrated Circuits
    Huang, Yi-Chun ; Ker, Ming-Dou
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 9 (2021), S. 881-890
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    A Study of ESD-mmWave-Switch Co-Design of 28GHz Distributed Travelling Wave Switch in 22nm FDSOI for 5G Systems
    Wang, Han ; Wang, Albert ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 9 (2021), S. 1290-1296
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Graphene for Future ESD Protection Circuits and Ultrasound Transducer Applications
    Chen, Qi
    2017
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in eScholarship (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Replacement Of Old|Obsolete Switchgear Equipment|defective Parts Ofequipment 2x3.15mva, 33|11kv Sub-station, Galore On Partial Turnkey Basis Under Esd Galore (ed Nadaun) (si Scheme)
    In: Mena Report, 2023-05-03
    Online Zeitungsartikel
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Dr. Giovanni De Micheli Honored with 2022 Phil Kaufman Award Presented by ESD Alliance and IEEE CEDA.
    In: Investment Weekly News, 2022-10-15, S. 139
    Zeitungsartikel
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    ESD Robustness Improvement for Integrated DMOS Transistors —The Different Gate-Voltage Dependence of It2 Between VDMOS and LDMOS Transistors
    HATASAKO, Kenichi ; YAMAMOTO, Fumitoshi ; et al.
    In: IEEJ transactions on electrical and electronic engineering, Jg. 6 (2011), Heft 4, S. 361-366
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    On-Chip Transient Detection Circuit for System-Level ESD Protection in CMOS Integrated Circuits to Meet Electromagnetic Compatibility Regulation
    KER, Ming-Dou ; YEN, Cheng-Cheng ; et al.
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 50 (2008), Heft 1, S. 13-21
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Transient Electrothermal Analysis of Multilevel Interconnects in the Presence of ESD Pulses Using the Nonlinear Time-Domain Finite-Element Method
    SHI, Yan-Bing ; YIN, Wen-Yan ; et al.
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 51 (2009), Heft 3, S. 774-783
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Design and Analysis of a 28GHz 9KV ESD-Protected Distributed Travelling-Wave TRx Switch in 22nm FDSOI
    Zhang, Feilong ; Li, Chaojiang ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 8 (2020), S. 655-661
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Correlation Between EUT Failure Levels and ESD Generator Parameters
    KOO, Jayong ; QING, CAI ; et al.
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 50 (2008), Heft 4, S. 794-801
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -