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    Vertical Electric Field-Induced Abnormal Capacitance–Voltage Electrical Characteristics in a-InGaZnO TFTs
    Chen, Jian-Jie ; Huang, Jen-Wei ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-09-01), S. 4431-4436
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    Quadruple Gate-Recessed AlGaN/GaN Fin-Nanochannel Array Metal-Oxide-Semiconductor High-Electron Mobility Transistors
    Hsin Ying Lee ; Jian, Jhang-Jie ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021), S. 42-48
    Online unknown
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    Improving the Properties of L-Ascorbic Acid Biosensor Based on GO/IGZO/Al Using Magnetic Beads
    Chou, Jung-Chuan ; Lai, Chih-Hsien ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 66 (2019-04-01), S. 1924-1929
    Online unknown
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    Ultrafast and Low-Turn-OFF Loss Lateral IEGT With a MOS-Controlled Shorted Anode
    Kunfeng, Zhu ; Chenxia, Wang ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 66 (2019), S. 533-538
    Online unknown
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    Gate-Tuned Temperature in a Hexagonal Boron Nitride-Encapsulated 2-D Semiconductor Device
    Philip X.-L. Feng ; Li, Yi ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 65 (2018-10-01), S. 4068-4072
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    Effects of Metal-Hydroxyl and InO x Defects on Performance of InGaZnO Thin-Film Transistor
    Lai, P. T. ; Wing Man Tang ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 65 (2018-03-01), S. 1009-1013
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    Low-Voltage Oxide-Based TFTs Self-Assembled on Paper Substrates With Tunable Threshold Voltage
    Jiang, Jie ; Zhou, Bin ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 59 (2012-02-01), S. 380-384
    Online unknown
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