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88 Treffer

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    Susceptibility of CMOS Voltage Comparators to Radio Frequency Interference
    FIORI, Franco
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 54 (2012), Heft 2, S. 434-442
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Study of Basic Effects of HPM Pulses in Digital CMOS Integrated Circuit Inputs
    HOLLOWAY, Michael A ; DILLI, Zeynep ; et al.
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 54 (2012), Heft 5, S. 1017-1027
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Increasing EMI Immunity in Novel Low-Voltage CMOS OpAmps
    RICHELLI, Anna
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 54 (2012), Heft 4, S. 947-950
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Transient-to-Digital Converter for System-Level Electrostatic Discharge Protection in CMOS ICs
    KER, Ming-Dou ; YEN, Cheng-Cheng
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 51 (2009), Heft 3, S. 620-630
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Generic and Accurate Whitebox Behavioral Model for Fast Simulation of Analog Effects in Nanometer CMOS Digital Logic Circuits
    LOECKX, Johan ; GIELEN, Georges G. E
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 51 (2009), Heft 2, S. 351-357
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    On-Chip Transient Detection Circuit for System-Level ESD Protection in CMOS Integrated Circuits to Meet Electromagnetic Compatibility Regulation
    KER, Ming-Dou ; YEN, Cheng-Cheng ; et al.
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 50 (2008), Heft 1, S. 13-21
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    CMOS OpAmp Resisting to Large Electromagnetic Interferences
    RICHELLI, Anna
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 52 (2010), Heft 4, S. 1062-1065
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Reduction of EMI susceptibility in CMOS bandgap reference circuits
    PRETELLI, Andrea ; RICHELLI, Anna ; et al.
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 48 (2006), Heft 4, S. 760-765
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    A Multiresolution Time Domain (MRTD) Method for Crosstalk Noise Modeling of CMOS-Gate-Driven Coupled MWCNT Interconnects.
    Rebelli, Shashank ; Nistala, Bheema Rao
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 62 (2020-04-01), Heft 2, S. 521-531
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Critical Upsets of CMOS Inverters in Static Operation Due to High-Power Microwave Interference
    KIM, Kyechong ; ILIADIS, Agis A
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 49 (2007), Heft 4, S. 876-885
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Impact of microwave interference on dynamic operation and power dissipation of CMOS inverters
    KIM, Kyechong ; ILIADIS, Agis A
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 49 (2007), Heft 2, S. 329-338
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    A new nonlinear model of EMI-induced distortion phenomena in feedback CMOS operational amplifiers
    FIORI, Franco
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 44 (2002), Heft 4, S. 495-502
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Robust design of low EMI susceptibility CMOS opamp
    RICHELLI, Anna ; COLALONGO, Luigi ; et al.
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 46 (2004), Heft 2, S. 291-298
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    A Multiresolution Time Domain (MRTD) Method for Crosstalk Noise Modeling of CMOS-Gate-Driven Coupled MWCNT Interconnects
    Bheema Rao Nistala ; Rebelli, Shashank
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 62 (2020-04-01), S. 521-531
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    An EMI-Resistant Common-Mode Cancelation Differential Input Stage in UMC 180 nm CMOS.
    Richelli, Anna ; Kennedy, Simon ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 59 (2017-12-01), Heft 6, S. 2049-2051
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Characterization and modeling of parasitic emission in deep submicron cmos
    VRIGNON, Bertrand ; DELMAS BENDHIA, Sonia ; et al.
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 47 (2005), Heft 2, S. 382-387
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Evaluation on board-level noise filter networks to suppress transient-induced latchup in CMOS ICs under system-level ESD test
    KER, Ming-Dou ; HSU, Sheng-Fu
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 48 (2006), Heft 1, S. 161-171
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Impact of Microwave Interference on Dynamic Operation and Power Dissipation of CMOS Inverters.;.
    Kim, Kyechong ; liadis, Agis A.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 49 (2007-05-01), Heft 2, S. 329-338
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    On-chip sampling in CMOS integrated circuits
    DELMAS-BENDHIA, S ; CAIGNET, F ; et al.
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 41 (1999), Heft 4, S. 403-406
    Online academicJournal
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Prediction of delays induced by in-band RFI in CMOS inverters
    LAURIN, J.-J ; ZAKY, S. G ; et al.
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 37 (1995), Heft 2, S. 167-174
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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