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    Accurate Modeling of Cryogenic Temperature Effects in 10-nm Bulk CMOS FinFETs Using the BSIM-CMG Model
    Gupta, Sumreti ; Sujit Kumar Singh ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 43 (2022-05-01), S. 689-692
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    A Nano-Electro-Mechanical Switch Based Power Gating for Effective Stand-by Power Reduction in FinFET Technologies
    U. Sajesh Kumar ; V. Ramgopal Rao ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 38 (2017-05-01), S. 681-684
    Online unknown
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    Modeling SiGe FinFETs With Thin Fin and Current-Dependent Source/Drain Resistance
    Salahuddin, Sayeef ; Hu, Chenming ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 36 (2015-07-01), S. 636-638
    Online unknown
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    Characterization and Modeling of Flicker Noise in FinFETs at Advanced Technology Node
    Hu, Chenming ; Wang, Joseph ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 40 (2019-06-01), S. 985-988
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    A Behavioral Compact Model for Static Characteristics of 3D NAND Flash Memory
    Strukov, Dmitri B. ; Sahay, Shubham
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 40 (2019-04-01), S. 558-561
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    Evaluation of 10-nm Bulk FinFET RF Performance—Conventional Versus NC-FinFET
    Parihar, S. S. ; Aditya, Kritika ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 39 (2018-08-01), S. 1246-1249
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    Performance Evaluation of 7-nm Node Negative Capacitance FinFET-Based SRAM
    Amit Ranjan Trivedi ; Yogesh Singh Chauhan ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 38 (2017-08-01), S. 1161-1164
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
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xl 1200 - 1366
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