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    High-Speed Active Quench and Reset Circuit for SPAD in a Standard 65 nm CMOS Technology
    Jiang, Wei ; Scott, Ryan P. ; et al.
    In: IEEE Photonics Technology Letters, Jg. 33 (2021-12-15), S. 1431-1434
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    A 1.8 V high-speed 8-bit hybrid DAC with integrated rail-to-rail buffer amplifier in CMOS 180 nm
    Rosli, Alia ; Marzuki, Arjuna ; et al.
    In: Microelectronics International, Jg. 38 (2021-05-18), S. 46-54
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    TiO2−x–TiO2 Memristor Applications for Programmable Analog VLSI Circuits at 45 nm CMOS Technology Node
    Abhay, S. V. ; Vidhyadharan, Sanjay
    In: Transactions on Electrical and Electronic Materials, Jg. 22 (2020-10-31), S. 452-458
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    Athermal Polysilicon Mach-Zehnder Interferometer in Bulk CMOS
    Tang, Cheng-Tse ; Hung, Yung-Jr ; et al.
    In: IEEE Photonics Technology Letters, Jg. 32 (2020-07-15), S. 855-858
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    Design of 0.13 µm low power CMOS subharmonic mixer for DCR applications
    Manjula, S. ; Suganthy, M. ; et al.
    In: International Journal of Electronics Letters, Jg. 9 (2020-07-14), S. 485-493
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    A monolithic bipolar CMOS electronic–plasmonic high-speed transmitter
    Tsiokos, Dimitris ; Ayata, Masafumi ; et al.
    In: Nature Electronics, Jg. 3 (2020-06-01), S. 338-345
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    A 1-mm2 CMOS-pipelined ADC with integrated folded cascode operational amplifier
    Idros, Norhamizah ; Rajendran, Jagadheswaran ; et al.
    In: Microelectronics International, Jg. 37 (2020-09-11), S. 205-213
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    Comparison of LER Induced Mismatch in NWFET and NSFET for 5-nm CMOS
    Gupta, Anshul ; Vega, Reinaldo A. ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 8 (2020), S. 1184-1192
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    A CMOS Low Power Current Source Tunable Inductor With 80% Tuning Range for RFIC
    Norlaili Mohd Noh ; Ibrahim, Shahrolhafiz S. ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 8 (2020), S. 1210-1218
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    Hot-carrier evaluation of a zero-cost transistor developed via process optimization in an embedded non-volatile memory CMOS technology
    Regnier, Arnaud ; Marzaki, Abderrezak ; et al.
    2021
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    Hybrid‐mode single‐slope ADC with improved linearity and reduced conversion time for CMOS image sensors
    Klosowski, M.
    In: International Journal of Circuit Theory and Applications, Jg. 48 (2019-11-27), S. 28-41
    Online unknown
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    CMOS Active Inductor/Resonator Based Voltage Controlled Oscillator
    Patel, Dhara P. ; Oza-Rahurkar, Shruti
    In: Recent Advances in Electrical & Electronic Engineering (Formerly Recent Patents on Electrical & Electronic Engineering), Jg. 12 (2019-11-22), S. 500-506
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    Contrast of latch-up induced by pulsed gamma rays in CMOS circuits after neutron irradiation and TID accumulation
    Yang, Shanchao ; Chen, Wei ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 98 (2019-07-01), S. 42-48
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    Ultralow power voltage reference circuit for implantable devices in standard CMOS technology
    Cabello, Diego ; Pereira-Rial, Oscar ; et al.
    In: International Journal of Circuit Theory and Applications, Jg. 47 (2019-07-01), S. 991-1005
    Online unknown
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    A high‐resolution all‐digital pulse‐width modulator architecture with a tunable delay element in CMOS
    Mandolesi, Pablo S. ; Paolini, Eduardo E. ; et al.
    In: International Journal of Circuit Theory and Applications, Jg. 48 (2020-04-27), S. 1329-1345
    Online unknown
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    Transfer, Assembly, and Embedding of Small CMOS-Die Arrays for the Build-Up of Flexible Smart Implants
    Bucher, Volker ; Rene von Metzen ; et al.
    In: IEEE Transactions on Components, Packaging and Manufacturing Technology, Jg. 9 (2019-07-01), S. 1415-1425
    Online unknown
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    A comparative study of lifetime reliability of planar MOSFET and FinFET due to BTI for the 16 nm CMOS technology node based on reaction-diffusion model
    Soin, Norhayati ; Mohamed Mounir Mahmoud
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 97 (2019-06-01), S. 53-65
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    Energy-Efficient Convolutional Neural Network Based on Cellular Neural Network Using Beyond-CMOS Technologies
    Lou, Qiuwen ; Pan, Chenyun ; et al.
    In: IEEE Journal on Exploratory Solid-State Computational Devices and Circuits, Jg. 5 (2019), Heft 2, S. 85-93
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    Determination of DC equivalent hot carrier stress times in scaled CMOS devices using novel AC stress methodology
    Kerber, Andreas ; Nigam, T.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 93 (2019-02-01), S. 98-101
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    Advancement of CMOS Transimpedance Amplifier for Optical Receiver
    Lye Suet Yeng ; Mohammad Arif Sobhan Bhuiyan ; et al.
    In: Transactions on Electrical and Electronic Materials, Jg. 20 (2018-12-19), S. 73-84
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