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  1. Salvador Pinillos Gimenez ; Renaux, Christian ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 9 (2021), S. 415-423
    Online unknown
  2. Ibrahim, Mohamed I. ; Han, Ruonan ; et al.
    In: Nature Electronics, Jg. 2 (2019-07-23), S. 284-289
    Online unknown
  3. Goto, Tetsuya ; Suwa, Akira ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 8 (2020), S. 27-32
    Online unknown
  4. Quaranta, S. ; Irrera, Fernanda ; et al.
    In: Solid-State Electronics, Jg. 186 (2021-12-01), S. 108093-108093
    Online unknown
  5. Irrera, Fernanda ; Russo, Felice ; et al.
    2020
    Online unknown
  6. A. De Marcellis ; Freitas, Paulo P. ; et al.
    In: Solid-State Electronics, Jg. 135 (2017-09-01), S. 100-104
    Online unknown
  7. Guo, Wei ; Jin, Hao ; et al.
    In: Solid-State Electronics, Jg. 137 (2017-11-01), S. 128-133
    Online unknown
  8. Marin-Cudraz, D. ; Legrand, Charles-Alexandre ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-10-01), S. 3991-3997
    Online unknown
  9. Woo Young Choi ; Hyug Su Kwon ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 38 (2017-09-01), S. 1317-1320
    Online unknown
  10. Dai, Chia-Tsen ; Ker, Ming-Dou
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-08-01), S. 3519-3523
    Online unknown
  11. Islam, Aminul ; Mehra, Rishab ; et al.
    In: Microsystem Technologies, Jg. 25 (2017-06-01), S. 1571-1583
    Online unknown
  12. Zhao, Jiaqing ; Liu, Yongpan ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-06-01), S. 2635-2642
    Online unknown
  13. Xu, Wei ; Mousa, Basant ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-02-01), S. 919-922
    Online unknown
  14. Yang, Hao ; Erry Dwi Kurniawan ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 83 (2018-04-01), S. 254-259
    Online unknown
  15. Inaba, Hiromi ; Kishine, Keiji ; et al.
    In: JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE, Jg. 17 (2017-12-31), S. 742-749
    Online unknown
  16. Pathak, Abhijeet ; Gawande, Tushar ; et al.
    In: International Journal of Electronics Letters, Jg. 6 (2017-09-15), S. 329-337
    Online unknown
  17. Schoenmaker, Wim ; Galy, Philippe
    In: Microelectronics Reliability, 2017-09-01, S. 680-684
    Online unknown
  18. Lan, Kai-Siang ; Lin, Yo-Sheng ; et al.
    In: Microwave and Optical Technology Letters, Jg. 59 (2017-06-27), S. 2112-2122
    Online unknown
  19. Liang, Bin ; Yang, GuoQing ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 73 (2017-06-01), S. 116-121
    Online unknown
  20. Al-Absi, Munir A.
    In: Active and Passive Electronic Components, Jg. 2017 (2017), S. 1-6
    Online unknown
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
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