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    Stand-by Power Reduction Using Experimentally Demonstrated Nano-Electromechanical Switch in CMOS Technologies
    Goel, Mayank ; Saha, Sumit ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-02-01), S. 746-752
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    Non-Volatile Wideband Frequency Tuning of a Ring-Oscillator by Charge Trapping in High-k Gate Dielectric in 22nm CMOS
    Iyer, Subramanian S. ; Nouri, Sepideh
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 42 (2021), S. 110-113
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    Prospects for Wide Bandgap and Ultrawide Bandgap CMOS Devices
    Han Wui Then ; Hickman, Austin ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 67 (2020-10-01), S. 4010-4020
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    Thermal Stress-Aware CMOS–SRAM Partitioning in Sequential 3-D Technology
    Spessot, Alessio ; Eugenio Dentoni Litta ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 67 (2020-11-01), S. 4631-4635
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    Modeling the Characteristics of SOI CMOS Nanotransistors with an Asymmetric Surrounding Gate
    Masal’skii, N. V.
    In: Russian Microelectronics, Jg. 49 (2020-09-01), S. 324-331
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    Yield Learning Methodologies and Failure Isolation in Ring Oscillator Circuit for CMOS Technology Research
    Gaul, A. ; Greene, Andrew M. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, Jg. 32 (2019-11-01), S. 393-399
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    CMOS-Like Logic Circuits With Unipolar Thin-Film Transistors on Flexible Substrate
    Wong, William S. ; Li, Qing ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 67 (2020-02-01), S. 512-517
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    Extracting a Logic Gate Network from a Transistor-Level CMOS Circuit
    Cheremisinov, Dmitry I. ; Cheremisinova, Liudmila D.
    In: Russian Microelectronics, Jg. 48 (2019-05-01), S. 187-196
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    Optimization Design on Active Guard Ring to Improve Latch-Up Immunity of CMOS Integrated Circuits
    Ker, Ming-Dou ; Chen, Chun-Cheng
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 66 (2019-04-01), S. 1648-1655
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    CMOS-Compatible MESFETs for High Power RF Integrated Circuits
    Lepkowski, William ; Zhang, Xiong ; et al.
    In: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, Jg. 32 (2019-02-01), S. 14-22
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    A Low-Energy High-Density Capacitor-Less I&F Neuron Circuit Using Feedback FET Co-Integrated With CMOS
    Park, Kyungchul ; Lee, Junil ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 7 (2019), S. 1080-1084
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Low power domino logic circuits in deep-submicron technology using CMOS
    Tarun Kumar Gupta ; Garg, Sandeep
    In: Engineering Science and Technology, Jg. 21 (2018-08-01), Heft 4, S. 625-638
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    AC Device Variability in High- <tex-math notation='LaTeX'>$\kappa$ </tex-math> Metal-Gate CMOS Technology
    Narayanan, Vijay ; Lee, Dongsoo ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 40 (2019), S. 13-16
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    Investigating the Dynamic Characteristics of High-Temperature SOI CMOS VLSIC Elements
    Ignatov, P. V. ; Shelepin, N. A. ; et al.
    In: Russian Microelectronics, Jg. 47 (2018-05-01), S. 197-200
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Total Dose Effects on Voltage References in 130-nm CMOS Technology
    Rosseto, Allan ; Bampi, Sergio ; et al.
    In: IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, Jg. 18 (2018-03-01), S. 27-36
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    Ultrahigh-Sensitive CMOS pH Sensor Developed in the BEOL of Standard 28 nm UTBB FDSOI
    Souifi, Abdelkader ; Drouin, Dominique ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 6 (2018), S. 1026-1032
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Ultracompact ESD Protection With BIMOS-Merged Dual Back-to-Back SCR in Hybrid Bulk 28-nm FD-SOI Advanced CMOS Technology
    Marin-Cudraz, D. ; Legrand, Charles-Alexandre ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-10-01), S. 3991-3997
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    Reliability-Enhanced Separated Pre-Charge Sensing Amplifier for Hybrid CMOS/MTJ Logic Circuits
    Zhao, Weisheng ; Zhang, Youguang ; et al.
    In: IEEE Transactions on Magnetics, Jg. 53 (2017-09-01), S. 1-5
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    Nonboolean Pattern Recognition Using Chains of Coupled CMOS Oscillators as Discriminant Circuits
    Afshari, Ehsan ; Pourahmad, Vahnood ; et al.
    In: IEEE Journal on Exploratory Solid-State Computational Devices and Circuits, Jg. 3 (2017), S. 1-9
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    Flexible CMOS integrated circuits based on carbon nanotubes with sub-10 ns stage delays
    Tulevski, George S. ; Cao, Qing ; et al.
    In: Nature Electronics, Jg. 1 (2018-03-09), S. 191-196
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