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    Power Performance Analysis of Digital Standard Cells for 28 nm Bulk CMOS at Cryogenic Temperature Using BSIM Models
    Chakraborty, Wriddhi ; Cao, Yu ; et al.
    In: IEEE Journal on Exploratory Solid-State Computational Devices and Circuits, Jg. 7 (2021-12-01), S. 193-200
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    Ultra-Low-Voltage UTBB-SOI-Based, Pseudo-Static Storage Circuits for Cryogenic CMOS Applications
    S. S. Teja Nibhanupudi ; Siddhartha Raman Sundara Raman ; et al.
    In: IEEE Journal on Exploratory Solid-State Computational Devices and Circuits, Jg. 7 (2021-12-01), S. 201-208
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    Characterization and Modeling of 22 nm FDSOI Cryogenic RF CMOS
    Gomez, Jorge ; Fay, Patrick ; et al.
    In: IEEE Journal on Exploratory Solid-State Computational Devices and Circuits, Jg. 7 (2021-12-01), S. 184-192
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    Toward Monolithically Integrated Hybrid CMOS-NEM Circuits
    Horace-Herron, Kelsey ; Usai, Giulia ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-12-01), S. 6430-6436
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    A High Temperature SOI-CMOS Chipset Focusing Sensor Electronics for Operating Temperatures up to 300°C
    Kappert, Holger ; Braun, Sebastian ; et al.
    In: Journal of Microelectronics and Electronic Packaging, Jg. 19 (2022), S. 1-7
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    BTI-Aware Timing Reliability Improvement of Pulsed Flip-Flops in Nano-Scale CMOS Technology
    Raji, Mohsen ; Jafari, Atousa ; et al.
    In: IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, Jg. 21 (2021-09-01), S. 379-388
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    Graphene Photo Memtransistor Based on CMOS Flash Memory Technology with Neuromorphic Applications
    Levy, Uriel ; Frydendahl, Christian ; et al.
    In: ACS Photonics, Jg. 8 (2021-07-14), S. 2659-2665
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    Integrated CMOS Microwave Power Converter for Passive Wireless Devices
    Konoplev, Boris G. ; Sinyukin, A. S.
    In: Russian Microelectronics, Jg. 50 (2021-05-01), S. 189-196
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    Demonstration of CMOS-Compatible Multi-Level Graphene Interconnects With Metal Vias
    Banerjee, Kaustav ; Agashiwala, Kunjesh ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-04-01), S. 2083-2091
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    3-D CMOS Chip Stacking for Security ICs Featuring Backside Buried Metal Power Delivery Networks With Distributed Capacitance
    Miura, Noriyuki ; Okidono, Takaaki ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-04-01), S. 2077-2082
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    Empirical Large-Signal Modeling of mm-Wave FDSOI CMOS Based on Angelov Model
    Rudolph, Matthias ; Dang Khoa Huynh ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-04-01), S. 1446-1453
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    Stand-by Power Reduction Using Experimentally Demonstrated Nano-Electromechanical Switch in CMOS Technologies
    Goel, Mayank ; Saha, Sumit ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-02-01), S. 746-752
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    A cryogenic CMOS chip for generating control signals for multiple qubits
    Pauka, S. J. ; Yang, Yuanyuan ; et al.
    In: Nature Electronics, Jg. 4 (2021-01-25), S. 64-70
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    Nanowire Array-based MOSFET for Future CMOS Technology to Attain the Ultimate Scaling Limit
    Bhol, Krutideepa ; Nanda, Umakanta
    In: Silicon, Jg. 14 (2021-01-07), S. 1169-1177
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    Study on CDM ESD Robustness Among On-Chip Decoupling Capacitors in CMOS Integrated Circuits
    Huang, Yi-Chun ; Ker, Ming-Dou
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 9 (2021), S. 881-890
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    Non-Volatile Wideband Frequency Tuning of a Ring-Oscillator by Charge Trapping in High-k Gate Dielectric in 22nm CMOS
    Iyer, Subramanian S. ; Nouri, Sepideh
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 42 (2021), S. 110-113
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    CMOS series-shunt single-pole double-throw transmit/receive switch and low noise amplifier design for internet of things based radio frequency identification devices
    Bhuiyan, M. A. S. ; Fan, Z. ; et al.
    In: Informacije MIDEM, Jg. 50 (2020-09-01), Heft 2, S. 105-114
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    Integrated Digital and Analog Circuit Blocks in a Scalable Silicon Carbide CMOS Technology
    Romijn, Joost ; May, Alexander ; et al.
    2022
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    Prospects for Wide Bandgap and Ultrawide Bandgap CMOS Devices
    Han Wui Then ; Hickman, Austin ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 67 (2020-10-01), S. 4010-4020
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    Modeling of the degradation of CMOS inverters under pulsed stress conditions from ‘on-the-fly’ measurements
    Nafria, M. ; Rodriguez, Rosana ; et al.
    2021
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