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    Silicon Wafer Gettering Design for Advanced CMOS Image Sensors Using Hydrocarbon Molecular Ion Implantation: A Review
    Okuda, Hidehiko ; Kobayashi, Koji ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 10 (2022), S. 720-727
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    A Compact and High-Resolution CMOS Switch-Type Phase Shifter Achieving 0.4-dB RMS Gain Error for 5G n260 Band
    Pang, Jian ; Jian, Pang ; et al.
    In: IEICE Transactions on Electronics, 2022-03-01, Heft No. 3, S. 102-109
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    Power Performance Analysis of Digital Standard Cells for 28 nm Bulk CMOS at Cryogenic Temperature Using BSIM Models
    Chakraborty, Wriddhi ; Cao, Yu ; et al.
    In: IEEE Journal on Exploratory Solid-State Computational Devices and Circuits, Jg. 7 (2021-12-01), S. 193-200
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    Ultra-Low-Voltage UTBB-SOI-Based, Pseudo-Static Storage Circuits for Cryogenic CMOS Applications
    S. S. Teja Nibhanupudi ; Siddhartha Raman Sundara Raman ; et al.
    In: IEEE Journal on Exploratory Solid-State Computational Devices and Circuits, Jg. 7 (2021-12-01), S. 201-208
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    Characterization and Modeling of 22 nm FDSOI Cryogenic RF CMOS
    Gomez, Jorge ; Fay, Patrick ; et al.
    In: IEEE Journal on Exploratory Solid-State Computational Devices and Circuits, Jg. 7 (2021-12-01), S. 184-192
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    Voltage Transfer Characteristics of CMOS-Like Inverters for Ambipolar SnO Thin-Film Transistors
    Nomura, Kenji ; Zhang, Yong ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 43 (2022), S. 52-55
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    High-Speed Active Quench and Reset Circuit for SPAD in a Standard 65 nm CMOS Technology
    Jiang, Wei ; Scott, Ryan P. ; et al.
    In: IEEE Photonics Technology Letters, Jg. 33 (2021-12-15), S. 1431-1434
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    Advancing Monolayer 2-D nMOS and pMOS Transistor Integration From Growth to Van Der Waals Interface Engineering for Ultimate CMOS Scaling
    Naylor, Carl H. ; Dorow, Chelsey ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-12-01), S. 6592-6598
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    Battery-Less Electronic Layer Detectors Array (ELDA) for In-Tool DUV Detection by FinFET CMOS Technology
    Chrong Jung Lin ; Lin, Wei-Hwa ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-10-01), S. 4972-4976
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    An optical parametric Bragg amplifier on a CMOS chip
    Sohn, Byoung-Uk ; Tan, Dawn T. H. ; et al.
    In: Nanophotonics, Jg. 10 (2021-08-19), S. 3507-3518
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Low-Voltage, High-Brightness Silicon Micro-LEDs for CMOS Photonics
    Kramnik, Danielius ; Nong, H. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-08-01), S. 3870-3875
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    Wideband Bandpass Filter for 5G Millimeter- Wave Application in 45-nm CMOS Silicon-on-Insulator
    Rebeiz, Gabriel M. ; Gao, Li
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 42 (2021-08-01), S. 1244-1247
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    Benchmarking Silicon FinFET With the Carbon Nanotube and 2D-FETs for Advanced Node CMOS Logic Application
    Uttam Kumar Das ; Muhammad Mustafa Hussain
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-07-01), S. 3643-3648
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    A Low Impedance CMOS-MEMS Capacitive Resonator Based on Metal-Insulator-Metal (MIM) Capacitor Structure
    Li, Sheng-Shian ; Chen, Hung-Yu ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 42 (2021-07-01), S. 1045-1048
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    Performance Projection of 2-D Material-Based CMOS Inverters for Sub-10-nm Channel Length
    Rawat, Brajesh ; Rawat, Akhilesh ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-07-01), S. 3622-3629
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    Design of a K-Band High-Efficiency Power Amplifier in 45 nm SOI CMOS Technology
    Liying, Chen ; Hao, Wang ; et al.
    In: Integrated Ferroelectrics, Jg. 217 (2021-06-13), S. 95-106
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    Design, modelling and testing of CMOS-MEMS switch
    Mehmood, Farhan ; Ahmad, Farooq ; et al.
    In: Microsystem Technologies, Jg. 27 (2021-04-26), S. 2543-2552
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    A Study on the Isolation Ability of <u>LOC</u>al <u>O</u>xidation of <u>SiC</u> (LOCOSiC) for 4H-SiC CMOS Process
    Chia Lung Hung ; Yu Xin Wen ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-12-01), S. 6644-6647
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    TCAD-Based Assessment of the Lateral GAA Nanosheet Transistor for Future CMOS
    Fossum, Jerry G. ; Ya Chi Huang ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-12-01), S. 6586-6591
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    A Novel RF Power Detector Based on Positive and Negative Thermistors Using Standard CMOS Technology
    Li, Jian-Hua ; Liao, Xiaoping
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 42 (2021-12-01), S. 1849-1852
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