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  1. De Geronimo, Gianluigi ; Li, Shaorui
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 58 (2011-10-15), Heft 5, S. 2382-2390
    Online academicJournal
  2. Verbruggen, Bob ; Iriguchi, Masao ; et al.
    In: IEEE Journal of Solid-State Circuits, Jg. 47 (2012-12-01), Heft 12, S. 2880-2887
    Online academicJournal
  3. Gan, B. ; Wei, T. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 62 (2015-10-01), Heft 5a, S. 1995-2002
    Online academicJournal
  4. Rhouni, Amine ; Techer, Jean-Denis ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 59 (2012-10-22), Heft 5, S. 2580-2586
    Online academicJournal
  5. Sun, Lei ; Ko, Chi-Tung ; et al.
    In: IEEE Transactions on Circuits & Systems. Part II: Express Briefs, Jg. 61 (2014-07-01), Heft 7, S. 476-480
    Online academicJournal
  6. Taghavi, Mohammad Hossein ; Ahmadi, Peyman ; et al.
    In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 24 (2016-04-01), Heft 4, S. 1460-1469
    Online academicJournal
  7. Hashemi, Sedigheh ; Razavi, Behzad
    In: IEEE Journal of Solid-State Circuits, Jg. 49 (2014-08-01), Heft 8, S. 1739-1750
    Online academicJournal
  8. Yun, Xiao ; Stanacevic, Milutin ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 58 (2011-08-01), Heft 4, S. 2129-2136
    Online academicJournal
  9. Grybos, Pawel ; Kachel, Maciej ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 58 (2011-02-15), Heft 1, S. 187-193
    Online academicJournal
  10. Sackinger, Eduard
    In: IEEE Transactions on Circuits & Systems. Part I: Regular Papers, Jg. 58 (2011-09-01), Heft 9, S. 2118-2126
    Online serialPeriodical
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