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    A novel high-speed CMOS circuit based on a gang of capacitors
    Sharroush, Sherif M.
    In: International Journal of Electronics, Jg. 104 (2017-03-24), S. 1388-1412
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    Area efficient layout design of CMOS circuit for high-density ICs
    Vimal Kumar Mishra ; Chauhan, R. K.
    In: International Journal of Electronics, Jg. 105 (2017-06-21), S. 73-87
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    A reconfigurable two-stage cyclic ADC for low-power applications in 3.3 V 0.35 µm CMOS
    Oberst, Matthias ; Domenech-Asensi, G. ; et al.
    In: International Journal of Electronics, Jg. 103 (2016-04-30), S. 1998-2012
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    INDEP approach for leakage reduction in nanoscale CMOS circuits
    Raj, Balwinder ; Pattanaik, Manisha ; et al.
    In: International Journal of Electronics, Jg. 102 (2014-03-11), S. 200-215
    Online unknown
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    Enhanced ground bounce noise reduction in a low-leakage CMOS multiplier
    Sharma, Sanjay ; Bipin Kumar Verma ; et al.
    In: International Journal of Electronics, Jg. 102 (2014-12-06), S. 1486-1501
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    32 nm high current performance double gate MOSFET for low power CMOS circuits
    Rahimian, Morteza ; Aminbeidokhti, Amirhossein ; et al.
    In: International Journal of Electronics, Jg. 102 (2014-04-03), S. 347-361
    Online unknown
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    A fully integrated CMOS inverse sine circuit for computational systems
    Seon, Jong-Kug
    In: International Journal of Electronics, Jg. 97 (2010-08-01), S. 867-882
    Online unknown
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    A new method to enhance frequency operation of CMOS ring oscillators
    Aimad El Mourabit ; Birjali, Youness ; et al.
    In: International Journal of Electronics, Jg. 99 (2012-03-01), S. 351-360
    Online unknown
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    Current monitoring circuit for fault detection in CMOS integrated circuit
    Jeong Beom Kim
    In: International Journal of Electronics, Jg. 95 (2008-10-01), S. 999-1007
    Online unknown
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    A CMOS Analog Cell and its applications in analog signal processing
    Al-Absi, Munir A. ; Muhammad Taher Abuelma'atti
    In: International Journal of Electronics, Jg. 93 (2006-04-01), S. 251-267
    Online unknown
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    Dynamic current testing for CMOS domino circuits
    Kayssi, Ayman ; Nazer, A. ; et al.
    In: International Journal of Electronics, Jg. 95 (2008-06-01), S. 577-592
    Online unknown
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    Universal and robust testing of stuck-open faults in Reed–Muller canonical CMOS circuits
    Das, Debesh K. ; Bhattacharya, Bhargab B. ; et al.
    In: International Journal of Electronics, Jg. 90 (2003), S. 1-11
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    Hysteresis effect in floating-body partially depleted SOI CMOS domino circuits
    Puri, Ruchir ; Chuang, Ching-Te
    In: International Journal of Electronics, Jg. 90 (2003-10-01), S. 645-663
    Online unknown
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    A CMOS built-in current sensing circuit
    Sung Je Hong ; Jeong Beom Kim ; et al.
    In: International Journal of Electronics, Jg. 85 (1998-08-01), S. 181-205
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    Strongly code-disjoint CMOS built-in intermediate voltage sensor for totally self-checking circuits
    Lee, Y. S. ; Pang, Joseph C. W. ; et al.
    In: International Journal of Electronics, Jg. 86 (1999-11-01), S. 1367-1375
    Online unknown
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Modelling and testing for bridging faults in CMOS and BiCMOS combinational circuits
    Bhatnagar, Rakesh ; Ismaeel, Asad A.
    In: International Journal of Electronics, Jg. 83 (1997-10-01), S. 529-540
    Online unknown
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    Hierarchical robust test generation for CMOS circuit stuck-open faults
    Nikolos, Dimitris ; Tsiatouhas, Yiorgos ; et al.
    In: International Journal of Electronics, Jg. 82 (1997), S. 45-60
    Online unknown
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Hazards in CMOS circuits
    Sasi, Sreela ; Radhakrishnan, D.
    In: International Journal of Electronics, Jg. 68 (1990-06-01), S. 967-990
    Online unknown
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    A reliable ground bounce noise reduction technique for nanoscale CMOS circuits
    Pattanaik, Manisha ; Vijay Kumar Sharma
    In: International Journal of Electronics, Jg. 102 (2015-01-22), S. 1852-1866
    Online unknown
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    A new structure for CMOS realization of MVL functions
    Jain, A.K. ; Bolton, R.J. ; et al.
    In: International Journal of Electronics, Jg. 74 (1993-02-01), S. 251-263
    Online unknown
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