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    Demonstration of 4H-SiC CMOS circuits consisting of well-balanced n- and p-channel MOSFETs fabricated by ultrahigh-temperature gate oxidation
    Moges, Kidist ; Shimura, Takayoshi ; et al.
    In: Applied Physics Express, Jg. 14 (2021-08-24), S. 091006-91006
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    Neutron induced noise degradation of ASICs in 350 nm CMOS technology
    Yaoguang, Liu ; Ying, Zhang ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 15 (2020-10-19), S. T10005
    Online unknown
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    Progress on the radiation tolerance of CMOS Monolithic Active Pixel Sensors
    Deveaux, Michael
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 14 (2019-11-05), S. R11001
    Online unknown
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    CMOS-embedded high-power handling RF-MEMS tunable capacitor using quadruple series capacitor and slit with dielectric bridges structure
    Saito, Tomohiro ; Ikehashi, Tamio ; et al.
    In: Japanese Journal of Applied Physics, Jg. 57 (2018-09-20), S. 1002B6
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    Photodiode area effect on performance of X-ray CMOS active pixel sensors
    Kim, YS ; Kim, Dongeun ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 13 (2018-02-19), S. C02023
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    Characterization of pixel sensor designed in 180 nm SOI CMOS technology
    Tomasek, L. ; Janoska, Z. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 13 (2018-01-19), S. C01025
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    A 1.2 V, 3.1% 3σ-accuracy thermal sensor analog front-end circuit in 12 nm CMOS process
    Wang, Linfeng ; Junhua, Xiao ; et al.
    In: Journal of Semiconductors, Jg. 42 (2021-03-01), S. 032401-32401
    Online unknown
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    Mechanically and electrically robust metal-mask design for organic CMOS circuits
    Ogasahara, Yasuhiro ; Hiromoto, Masayuki ; et al.
    In: Japanese Journal of Applied Physics, Jg. 57 (2018-02-19), S. 04FL05
    Online unknown
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    A novel CMOS out-of-plane accelerometer with fully differential gap-closing capacitance sensing electrodes
    Sun, Chih-Ming ; Tsai, Ming-Han ; et al.
    In: Journal of Micromechanics and Microengineering, Jg. 17 (2007-06-05), S. 1275-1280
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    Recent trends in hardware security exploiting hybrid CMOS-resistive memory circuits
    Suri, Manan ; Sahay, Shubham
    In: Semiconductor Science and Technology, Jg. 32 (2017-10-26), S. 123001-123001
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    A Close Loop Low-Power and High Speed 130 nm CMOS Sample and Hold Circuit Based on Switched Capacitor for ADC Module
    Siti Hawa Ruslan ; Nasir, Z
    In: IOP Conference Series: Materials Science and Engineering, Jg. 226 (2017-08-01), S. 012139-12139
    Online unknown
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    Design and Implementation of Hybrid Multiple Valued Logic Error Detector using Single Electron Transistor and CMOS at 120nm Technology
    Dakhole, Pravin ; Raut, Vaishali
    In: IOP Conference Series: Materials Science and Engineering, Jg. 225 (2017-08-01), S. 012160-12160
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    Novel design techniques for noise-tolerant power-gated CMOS circuits
    Rastogi, Rumi ; Pandey, Sujata
    In: Journal of Semiconductors, Jg. 38 (2017), S. 015001-15001
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    Gate leakage tolerant circuits in deep sub-100 nm CMOS technologies
    Kang, Sung-Mo ; Wang, Zhongda ; et al.
    In: Smart Materials and Structures, Jg. 15 (2005-12-13), S. S21- (8S.)
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    Enhancement in open-circuit voltage of implantable CMOS-compatible glucose fuel cell by improving the anodic catalyst
    Niitsu, Kiichi ; Kobayashi, Atsuki ; et al.
    In: Japanese Journal of Applied Physics, Jg. 56 (2016-11-10), S. 01AH04
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    Heterogeneous integration of GaAs pHEMT and Si CMOS on the same chip
    Shen, Hong-Chang ; Wu, Lishu ; et al.
    In: Chinese Physics B, Jg. 25 (2016-06-01), S. 067306-67306
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    Characterization and modelling of MOSFET operating at cryogenic temperature for hybrid superconductor-CMOS circuits
    Zhou, Peng ; Liu, Hongying ; et al.
    In: Semiconductor Science and Technology, Jg. 19 (2004-10-13), S. 1381-1385
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    Low-parasitic ESD protection strategy for RF ICs in 0.35μm CMOS process
    Zhongjian, Chen ; Song, Jia ; et al.
    In: Chinese Physics, Jg. 15 (2006-09-21), S. 2297-2305
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    An approach to fabricating microstructures that incorporate circuits using a post-CMOS process
    Dai, Ching-Liang ; Chiu, Chin-Fon ; et al.
    In: Journal of Micromechanics and Microengineering, Jg. 15 (2004-10-09), S. 98-103
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    Reliability aspects of the low-frequency noise behaviour of submicron CMOS technologies
    Simoen, Eddy ; Claeys, Cor
    In: Semiconductor Science and Technology, Jg. 14 (1999), S. R61- (11S.)
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