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    Toward Monolithically Integrated Hybrid CMOS-NEM Circuits
    Horace-Herron, Kelsey ; Usai, Giulia ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-12-01), S. 6430-6436
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    Reconfigurable MoTe2 Field-Effect Transistors and its Application in Compact CMOS Circuits
    Chen, Jing ; Wu, Xiao-Ming ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-09-01), S. 4748-4753
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    A Low-Power CMOS Current Reference for Piezoelectric Energy Harvesters
    Karlsen, Haakon ; Li, Ping ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 67 (2020-08-01), S. 3403-3410
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    Carbon Nanotube-Based CMOS SRAM: 1 kbit 6T SRAM Arrays and 10T SRAM Cells
    Shulaker, Max M. ; Lau, Christian ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 66 (2019-12-01), S. 5375-5380
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    Investigation of Unexpected Latchup Path Between HV-LDMOS and LV-CMOS in a 0.25- $\mu \text{m}$ 60-V/5-V BCD Technology
    Dai, Chia-Tsen ; Ker, Ming-Dou
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-08-01), S. 3519-3523
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    Performance Potential of Ge CMOS Technology From a Material-Device-Circuit Perspective
    Alam, Muhammad A. ; Wu, Heng ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 65 (2018-05-01), S. 1679-1684
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    Decoupling Structures for Millimeter Wave Integrated Circuits in Digital CMOS Processes
    Wu, Kefei ; Muralidharan, Sriram ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 65 (2018-02-01), S. 788-792
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    Noise Margin, Delay, and Power Model for Pseudo-CMOS TFT Logic Circuits
    Zhao, Jiaqing ; Liu, Yongpan ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-06-01), S. 2635-2642
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    Modeling of CMOS Devices and Circuits on Flexible Ultrathin Chips
    Dahiya, Ravinder ; Gupta, Shoubhik ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-05-01), S. 2038-2046
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    Comparison of Logic Performance of CMOS Circuits Implemented With Junctionless and Inversion-Mode FinFETs
    Guin, Shilpi ; Sil, Monali ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-03-01), S. 953-959
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    Fully Depleted Ge CMOS Devices and Logic Circuits on Si
    Ye, Peide D. ; Wu, Heng
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016-08-01), S. 3028-3035
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    Self-Heat Characterizations and Modeling of Multifinger nMOSFETs for RF-CMOS Applications
    Kobayashi, Haruo ; Aoki, Hitoshi
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 62 (2015-09-01), S. 2704-2709
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    High-Temperature Voltage and Current References in Silicon Carbide CMOS
    Francis, A. M. ; Holmes, Jim ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016-06-01), S. 2455-2461
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    Afterpulsing Characteristics of Free-Running and Time-Gated Single-Photon Avalanche Diodes in 130-nm CMOS
    M. Jamal Deen ; Palubiak, Darek ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 62 (2015-11-01), S. 3727-3733
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    CMOS Logic Device and Circuit Performance of Si Gate All Around Nanowire MOSFET
    Murali, Kota V. R. M. ; Konar, Aniruddha ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 61 (2014-09-01), S. 3066-3074
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    On-Chip HBM and HMM ESD Protection Design for RF Applications in 40-nm CMOS Process
    Lin, Chun-Yu ; Chang, Rong-Kun ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 65 (2018-12-01), S. 5267-5274
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    Fast Wafer-Level Stress-and-Sense Methodology for Characterization of Ring-Oscillator Degradation in Advanced CMOS Technologies
    Kerber, Andreas ; Wan, Xinggong ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 62 (2015-05-01), S. 1427-1432
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    Static and Dynamic Oxide-Trapped- Charge-Induced Variability in Nanoscale CMOS Circuits
    Zebrev, Gennady I.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 66 (2019-06-01), S. 2483-2488
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    A Phase-Change Via-Reconfigurable CMOS $LC$ VCO
    Wen, Cheng-Yuan ; Pileggi, Larry ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 60 (2013-12-01), S. 3979-3988
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    Robust ESD Protection Design for 40-Gb/s Transceiver in 65-nm CMOS Process
    Chu, Li-Wei ; Ker, Ming-Dou ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 60 (2013-11-01), S. 3625-3631
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