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  1. THIERRY, Taris ; JEAN-BAPTISTE, Begueret ; et al.
    In: Microelectronics journal, Jg. 37 (2006), Heft 11, S. 1251-1260
    Konferenz
  2. KIM, Chan-Kyung ; LEE, Jae-Goo ; et al.
    In: Microelectronics journal, Jg. 38 (2007), Heft 10-11, S. 1042-1049
    academicJournal
  3. RUIZ, G. A ; GRANDA, M
    In: Microelectronics journal, Jg. 35 (2004), Heft 12, S. 939-944
    academicJournal
  4. ALIOTO, M ; DI CATALDO, G ; et al.
    In: Microelectronics journal, Jg. 38 (2007), Heft 1, S. 130-139
    academicJournal
  5. PRENAT, Guillaume ; MIR, Salvador ; et al.
    In: International mixed-signals testing workshop, Jg. 36 (2005), Heft 12, S. 1080-1090
    Konferenz
  6. SACRISTAN-RIQUELME, Jordi ; OSES, M. Teresa
    In: Microelectronics journal, Jg. 38 (2007), Heft 12, S. 1135-1149
    academicJournal
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
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