Zum Hauptinhalt springen
UB Hagen

Suchergebnisse

UB Katalog

Artikel & mehr
44 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Aktive Suchfilter

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Gefunden in

Art der Quelle

Schlagwort

Publikation

Sprache

44 Treffer

Sortierung: 
  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Analysis of Fault Detection Probability of CMOS Combinational Circuits and Its Application to Signature Testing.
    Iwasaki, Kazuhiko
    In: Systems & Computers in Japan, Jg. 21 (1990-05-01), Heft 5, S. 29-38
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Wide-band modelling of CMOS interconnections and voiding damages with the lumped element LE-FDTD method.
    Alimenti, F. ; Impronta, M. ; et al.
    In: International Journal of Numerical Modelling, Jg. 17 (2004-11-01), Heft 6, S. 561-573
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Experimental investigation of multi-path and metal-stacking structure for 8-shape on-chip inductors on standard CMOS.
    Zou, Wanghui ; Chen, Diping ; et al.
    In: Electronics Letters (Wiley-Blackwell), Jg. 52 (2016-11-24), Heft 24, S. 1998-1999
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Development of Functional Simulation Model of CMOS Memory.
    Hayashi, Shin-ichi ; Watanabe, Toshinori ; et al.
    In: Electronics & Communications in Japan, Part 3: Fundamental Electronic Science, Jg. 75 (1992-07-01), Heft 7, S. 97-110
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    A 256-K 13-Nanosecond CMOS SRAM.
    Asahina, Katsushi ; Murakami, Shuji ; et al.
    In: Electronics & Communications in Japan, Part 2:, Jg. 73 (1990-03-01), Heft 3, S. 43-50
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    The Optimization of a DRAM CMOS Row Decoder Circuit.
    Ozaki, Hideyuki ; Miyamoto, Hiroshi ; et al.
    In: Electronics & Communications in Japan, Part 2:, Jg. 73 (1990-03-01), Heft 3, S. 1-9
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Proposal of High Speed Bipolar-CMOS Merged VLSI Technology and Its Future Prospect.
    Watanabe, Atsuo ; Hiraisi, Atsusi ; et al.
    In: Electronics & Communications in Japan, Part 2:, Jg. 71 (1988-06-01), Heft 6, S. 63-73
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Design of Very Low-Distortion, Four-Quadrant Analog Multiplier-Type CMOS-OTA Considering Variation of Mobility According to the Gate Voltage.
    Igarashi, Yutaka ; Hyogo, Akira ; et al.
    In: Electronics & Communications in Japan, Part 2:, Jg. 77 (1994-07-01), Heft 7, S. 65-76
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    A Multiple-ISFET Integrated with CMOS Interface Circuits.
    Tsukada, Keiji ; Maruizumi, Takuya ; et al.
    In: Electronics & Communications in Japan, Part 2:, Jg. 71 (1988-12-01), Heft 12, S. 93-99
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    A positive/negative refractive index coplanar transmission line in CMOS for controlled insertion phase.
    Symon, Podilchak ; Brian, Frank ; et al.
    In: Microwave & Optical Technology Letters, Jg. 50 (2008-08-01), Heft 8, S. 2227-2229
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    DESIGN BASED FAILURE ANALYSIS AND YIELD IMPROVEMENT IN CMOS-CIRCUITS.
    Griep, S. ; Keitel-Schulz, D. ; et al.
    In: Quality & Reliability Engineering International, Jg. 12 (1996-07-01), Heft 4, S. 221-227
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Proper Modeling for Accurate Distortion Analysis.
    In: Device Modeling for Analog & RF CMOS Circuit Design; (2003) S. 141-152
    Online Buch
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Effects and Modeling of Process Variation and Device Mismatch.
    In: Device Modeling for Analog & RF CMOS Circuit Design; (2003) S. 263-278
    Online Buch
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Attenuation Characteristics of Conventional, Micromachined, and Superconducting Coplanar Waveguides.
    In: Coplanar Waveguide Circuits, Components, & Systems; (2001) S. 203-236
    Online Buch
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Defect- and Fault-Tolerant Static RAM Module Designs Based on Parity Checking and Automatic Testing.
    Tsuda, Nobuo
    In: Systems & Computers in Japan, Jg. 24 (1993-02-01), Heft 2, S. 1-10
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Design of VLSI-Oriented Radix-4 Signed-Digit Arithmetic Circuits Using Multiple-Valued Logic.
    Kawahito, Shoji ; Kameyama, Michitaka ; et al.
    In: Systems & Computers in Japan, Jg. 18 (1987-04-01), Heft 4, S. 41-52
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Design of a Ku-band Wilkinson power divider on surface-stabilized high-resistivity Si substrates.
    Ji, Taeksoo ; Yoon, Hargsoon ; et al.
    In: Microwave & Optical Technology Letters, Jg. 44 (2005-03-05), Heft 5, S. 436-439
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    RELIABILITY CHALLENGES FOR LOW VOLTAGE/LOW POWER INTEGRATED CIRCUITS.
    Galbraith, J. M. ; Galloway, K. F. ; et al.
    In: Quality & Reliability Engineering International, Jg. 12 (1996-07-01), Heft 4, S. 271-279
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    A high-speed bit synchronization circuit by direct control of the oscillation phase of a VCO.
    Taya, Takashi ; Yoshida, Akira ; et al.
    In: Electrical Engineering in Japan, Jg. 125 (1998-11-15), Heft 2, S. 35-43
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Design of a higher-order autocorrelation vision chip.
    Yamamoto, Kenkichi ; Ishii, Idaku
    In: Electronics & Communications in Japan, Part 2:, Jg. 88 (2005), Heft 1, S. 24-31
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -