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    A Single-Event Transient-Tolerant High-Frequency CMOS Quadrature Phase Oscillator
    Rudrapati, Sivaramakrishna ; Jagtap, Sharayu ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 66 (2019-09-01), S. 2072-2079
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    Compact Modeling of Single-Event Latchup of Integrated CMOS Circuit
    Ducret, S. ; A. Al Youssef ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 66 (2019-07-01), S. 1510-1515
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    A Body-Biasing Technique for Single-Event Transient Mitigation in 28-nm Bulk CMOS Process
    Song, Shengyu ; Guo, Yang ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 68 (2021-12-01), S. 2717-2723
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    Comparison of a 65 nm CMOS Ring- and LC-Oscillator Based PLL in Terms of TID and SEU Sensitivity
    Prinzie, Jeffrey ; Moreira, Paulo ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 64 (2017), S. 245-252
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    DFF Layout Variations in CMOS SOI—Analysis of Hardening by Design Options
    Reed, Robert A. ; Trippe, James M. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 67 (2020-06-01), S. 1125-1132
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    A 32 kb Macro with 8T Soft Error Robust, SRAM Cell in 65-nm CMOS
    Jaspal Singh Shah ; Sachdev, Manoj ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 62 (2015-06-01), S. 1367-1374
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    Modeling of Elevated Temperatures Impact on Single Event Transient in Advanced CMOS Logics Beyond the 65-nm Technological Node
    Artola, Laurent ; Hubert, Guillaume
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 61 (2014-08-01), S. 1611-1617
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    Front end Electronics for SLHC Semiconductor Trackers in CMOS 90 nm and 130 nm Processes
    Kaplon, J. ; Noy, Matthew
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 59 (2012-08-01), S. 1611-1620
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    A High Load Current, Low-Noise, Area-Efficient, Full On-Chip Regulator for CMOS Pixel Sensors
    Wang, Jia ; Hu, Yann ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 59 (2012-06-01), S. 582-588
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    Investigation of Low Dose Rate and Bias Conditions on the Total Dose Tolerance of a CMOS Flash-Based FPGA
    Nguyen, V. ; McCollum, John L. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 59 (2012-02-01), S. 134-143
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    Analysis of Low Dose Rate Effects on Parasitic Bipolar Structures in CMOS Processes for Mixed-Signal Integrated Circuits
    Prater, J.S. ; Brown, B. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 58 (2011-06-01), S. 1023-1031
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    Impact of Circuit Placement on Single Event Transients in 65 nm Bulk CMOS Technology
    Jun-rui, Qin ; Bin, Liang ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 59 (2012-12-01), S. 2772-2777
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    A Low Noise Pixel Architecture for Scientific CMOS Monolithic Active Pixel Sensors
    Tyndel, M. ; Turchetta, Renato ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 57 (2010-10-01), S. 2490-2496
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    A Physics-Based Engineering Methodology for Calculating Soft Error Rates of Bulk CMOS and SiGe Heterojunction Bipolar Transistor Integrated Circuits
    Fulkerson, David E.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 57 (2010-02-01), S. 348-357
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    New SET Characterization Technique Using SPICE for Fully Depleted CMOS/SOI Digital Circuitry
    Ebihara, T. ; Shindou, Hiroyuki ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 55 (2008-12-01), S. 2921-2927
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    Differential Charge Cancellation (DCC) Layout as an RHBD Technique for Bulk CMOS Differential Circuit Design
    Kauppila, Jeffrey S. ; Hooten, Nicholas C. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 59 (2012-12-01), S. 2867-2871
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    Single-Event Transients Effects on Dynamic Comparators in a 90 nm CMOS Triple-Well and Dual-Well Technology
    Wang, Tao ; Dinh, Anh ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 56 (2009-12-01), S. 3556-3560
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    Temperature Dependency of Charge Sharing and MBU Sensitivity in 130-nm CMOS Technology
    Chen, Shuming ; Liang, Bin ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 56 (2009-08-01), S. 2473-2479
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    Effects of Moisture on Radiation-Induced Degradation in CMOS SOI Transistors
    Dodd, Paul E. ; Schwank, James R. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 57 (2010-08-01), S. 1777-1780
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    A 10-bit Low-Power Small-Area High-Swing CMOS DAC
    Przyborowski, D. ; Idzik, Marek
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 57 (2010-02-01), S. 292-299
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