Suchergebnisse
UB Katalog
Artikel & mehr
Suchmaske
Suchergebnisse einschränken oder erweitern
Aktive Suchfilter
Weniger Treffer
Gefunden in
Art der Quelle
Schlagwort
- capa multiple 1 Treffer
- corriente escape 1 Treffer
- couche multiple 1 Treffer
- courant fuite 1 Treffer
- dispositif semiconducteur 1 Treffer
-
12 weitere Werte:
- dispositivo semiconductor 1 Treffer
- electron beam lithography 1 Treffer
- estructura mos 1 Treffer
- leakage current 1 Treffer
- lithographie faisceau electron 1 Treffer
- litografia haz electron 1 Treffer
- mos structure 1 Treffer
- multiple layer 1 Treffer
- semiconductor device 1 Treffer
- structure mos 1 Treffer
- temperatura 1 Treffer
- temperature 1 Treffer
Sprache
2 Treffer
-
In: Japanese journal of applied physics, Jg. 30 (1991), Heft 11B, S. 3302-3307academicJournalZugriff:
-
In: Japanese journal of applied physics, Jg. 30 (1991), Heft 11B, S. 3277-3281academicJournalZugriff: