Zum Hauptinhalt springen
UB Hagen

Suchergebnisse

UB Katalog

Artikel & mehr
54 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Aktive Suchfilter

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Gefunden in

Art der Quelle

Schlagwort

Sprache

54 Treffer

Sortierung: 
  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    A Comparison of Summarization Methods for Duplicate Software Bug Reports
    Mukhtar, Samal ; Claudia Cahya Primadani ; et al.
    In: Electronics, Jg. 12 (2023-08-01), Heft 16, S. 3456-3456
    Online academicJournal
    Zugriff:
    View record in DOAJ (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Two-Level Information-Retrieval-Based Model for Bug Localization Based on Bug Reports
    Alsaedi, Shatha ; Gad-Elrab, Ahmed A. A. ; et al.
    In: Electronics, Jg. 13 (2024), Heft 2, S. 321-321
    Online academicJournal
    Zugriff:
    View record in DOAJ (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Hunting Energy Bugs in Embedded Systems: A Software-Model-In-The-Loop Approach
    Schaarschmidt, Marco ; Uelschen, Michael ; et al.
    In: Electronics, Jg. 11 (2022-06-01), Heft 13, S. 1937-1937
    Online academicJournal
    Zugriff:
    View record in DOAJ (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Siamese Neural Networks on the Trail of Similarity in Bugs in 5G Mobile Network Base Stations
    Zarębski, Sebastian ; Kuzmich, Aleksander ; et al.
    In: Electronics, Jg. 11 (2022-11-01), Heft 22, S. 3664-3664
    Online academicJournal
    Zugriff:
    View record in DOAJ (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Finding More Property Violations in Model Checking via the Restart Policy
    Geng, Mengtao ; Zhang, Xiaoyu ; et al.
    In: Electronics, Vol 10, Iss 2957, p 2957 (2021, 2021
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Finding More Property Violations in Model Checking via the Restart Policy
    Li, Jianwen ; Geng, Mengtao ; et al.
    In: Electronics, Jg. 10 (2021-11-27), S. 2957-2957
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    VConMC: Enabling Consistency Verification for Distributed Systems Using Implementation-Level Model Checkers and Consistency Oracles
    Kim, Beom-Heyn
    In: Electronics, Jg. 13 (2024-03-01), Heft 6, S. 1153-1153
    Online academicJournal
    Zugriff:
    View record in DOAJ (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Formal Analysis of Reentrancy Vulnerabilities in Smart Contract Based on CPN
    He, Yaqiong ; Dong, Hanjie ; et al.
    In: Electronics, Vol 12, Iss 2152, p 2152 (2023, 2023
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Distributed and Federated Authentication Schemes Based on Updatable Smart Contracts
    Kim, Keunok ; Ryu, Jihyeon ; et al.
    In: Electronics, Vol 12, Iss 1217, p 1217 (2023, 2023
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Grouping Sensors for the Key Distribution of Implicit Certificates in Wireless Sensor Networks
    Chang, Ray-I ; Chiang, Chien-Wen ; et al.
    In: Electronics, Jg. 12 (2023-06-01), Heft 13, S. 2815-2815
    Online academicJournal
    Zugriff:
    View record in DOAJ (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Patch It If You Can: Increasing the Efficiency of Patch Generation Using Context
    Heo, Jinseok ; Jeong, Hohyeon ; et al.
    In: Electronics, Jg. 12 (2022-12-01), Heft 1, S. 179-179
    Online academicJournal
    Zugriff:
    View record in DOAJ (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    BugMiner: Mining the Hard-to-Reach Software Vulnerabilities through the Target-Oriented Hybrid Fuzzer
    Rustamov, Fayozbek ; Kim, Juhwan ; et al.
    In: Electronics, Vol 10, Iss 62, p 62 (2020, 2020
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    ESFuzzer: An Efficient Way to Fuzz WebAssembly Interpreter
    Han, Jideng ; Zhang, Zhaoxin ; et al.
    In: Electronics, Jg. 13 (2024-04-01), Heft 8, S. 1498-1498
    Online academicJournal
    Zugriff:
    View record in DOAJ (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Exploring the Potential of Pre-Trained Language Models of Code for Automated Program Repair
    Hao, Sichong ; Shi, Xianjun ; et al.
    In: Electronics, Jg. 13 (2024-03-01), Heft 7, S. 1200-1200
    Online academicJournal
    Zugriff:
    View record in DOAJ (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    AI-Assisted Programming Tasks Using Code Embeddings and Transformers
    Kotsiantis, Sotiris ; Verykios, Vassilios ; et al.
    In: Electronics, Jg. 13 (2024-02-01), Heft 4, S. 767-767
    Online academicJournal
    Zugriff:
    View record in DOAJ (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    A Review of Deep Learning-Based Binary Code Similarity Analysis
    Du, Jiang ; Wei, Qiang ; et al.
    In: Electronics, Jg. 12 (2023-11-01), Heft 22, S. 4671-4671
    Online academicJournal
    Zugriff:
    View record in DOAJ (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Enhancing Software Project Monitoring with Multidimensional Data Repository Mining
    Reszka, Łukasz ; Sosnowski, Janusz ; et al.
    In: Electronics, Jg. 12 (2023-09-01), Heft 18, S. 3774-3774
    Online academicJournal
    Zugriff:
    View record in DOAJ (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Efficient Model-Driven Prototyping for Edge Analytics
    Hafiz Ahmad Awais Chaudhary ; Guevara, Ivan ; et al.
    In: Electronics, Jg. 12 (2023-09-01), Heft 18, S. 3881-3881
    Online academicJournal
    Zugriff:
    View record in DOAJ (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    RegFuzz: A Linear Regression-Based Approach for Seed Scheduling in Directed Fuzzing
    Lin, Mingmin ; Zeng, Yingpei ; et al.
    In: Electronics, Vol 12, Iss 3650, p 3650 (2023, 2023
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Designing and Evaluating a Flexible and Scalable HTTP Honeypot Platform: Architecture, Implementation, and Applications
    Rabzelj, Matej ; Leon Štefanić Južnič ; et al.
    In: Electronics, Vol 12, Iss 3480, p 3480 (2023, 2023
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -