Zum Hauptinhalt springen

Suchergebnisse

UB Katalog
Ermittle Trefferzahl…

Artikel & mehr
57 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Gefunden in

Art der Quelle

Schlagwort

Verlag

Publikation

Sprache

57 Treffer

Sortierung: 
  1. ADLER, I ; TSANG, T ; et al.
    academicJournal
  2. SHANG RONG, TSAI ; LI MING, TSENG ; et al.
    In: Microprocessing and microprogramming, Jg. 19 (1987), Heft 5, S. 375-384
    academicJournal
  3. HUANG, Cheng-Hung ; CHEN, Yung-Fong ; et al.
    In: International journal of heat and mass transfer, Jg. 55 (2012), Heft 19-20, S. 5289-5301
    academicJournal
  4. HUANG, Cheng-Hung ; LU, Jon-Jer ; et al.
    In: International journal of heat and mass transfer, Jg. 54 (2011), Heft 7-8, S. 1482-1492
    academicJournal
  5. TAO, LI ; JIMIN, HE
    In: IMAC XVII : 17th international modal analysis conference (Kissimmee FL, 8-11 February 1999), 1999, S. 342-348
    Konferenz
  6. GUPTA, M. C ; LI, B ; et al.
    In: Optics and lasers in engineering, Jg. 48 (2010), Heft 4, S. 441-447
    academicJournal
  7. WANG, C. A ; DUERR, E. K ; et al.
    In: Journal of crystal growth, Jg. 310 (2008), Heft 7-9, S. 1583-1589
    academicJournal
  8. LALI-DASTJERDI, Zohreh ; KROUSHAWI, Feisal
    In: Optics communications, Jg. 281 (2008), Heft 18, S. 4572-4576
    academicJournal
  9. FUJII, Yusaku ; SHU, Dong-Wei
    In: International journal of impact engineering, Jg. 35 (2008), Heft 2, S. 98-108
    academicJournal
  10. ATUCHIN, V. V ; KESLER, V. G ; et al.
    In: Solid state communications, Jg. 138 (2006), Heft 5, S. 250-254
    academicJournal
  11. ANTOS, Roman ; VEIS, Martin ; et al.
    In: Metrology, inspection, and process control for microlithography XIX (San Jose CA, 7-10 March 2005), 2005
    Konferenz
  12. HAQ, N ; SARIGUL, E ; et al.
    In: Advanced signal processing algorithms, architectures, and implementations XVI (15-16 August, 2006, San Diego, California, USA), 2006, S. 63130I.1
    Konferenz
  13. GRECO, M ; ACITO, N ; et al.
    In: Image and signal processing for remote sensing XI (20-22 September, 2005, Bruges, Belgique), 2005, S. 598216.1
    Konferenz
  14. SHOVKUN, V. Ya ; KUMAKHOV, M. A ; et al.
    In: X-ray and Neutron Capillary Optics II (22-26 September 2004, Zvenigorod, Russia), 2005, S. 70-77
    Konferenz
  15. SCHOPLAU, William J
    In: Defense, security, and cockpit displays (Orlando FL, 14-16 April 2004), 2004, S. 277-287
    Konferenz
  16. LILLO-SAAVEDRA, Mario ; GONZALO, Consuelo ; et al.
    In: Image and signal processing for remote sensing IX (Barcelona, 9-12 September 2003), 2004, S. 560-568
    Konferenz
  17. SAKO, Kageyasu ; SUGIKI, Mikio ; et al.
    In: Optical data storage 2004 (Monterey CA, 18-21 April 2004), 2004, S. 289-296
    Konferenz
  18. MIN, CHEN ; NIKLES, David E ; et al.
    In: Proceedings of the 4th International Conference on Fine Particle Magnetism (ICFPM), 14-16 August 2002, Pittsburgh, PA, USA, Jg. 266 (2003), Heft 1-2, S. 8-11
    Konferenz
  19. HEGLIN, M ; GOVORKOV, S. V ; et al.
    In: Photon processing in microelectronics and photonics (San Jose CA, 21-24 January 2002), 2002, S. 386-396
    Konferenz
  20. OLOWINSKY, A ; KRAMER, T ; et al.
    In: Photon processing in microelectronics and photonics (San Jose CA, 21-24 January 2002), 2002, S. 571-580
    Konferenz
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -