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  1. WU, Woei-Cherng ; CHAO, Tien-Sheng ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 28 (2007), Heft 3, S. 214-216
    Online academicJournal
  2. WU, Woei-Cherng ; CHAO, Tien-Sheng ; et al.
    In: Semiconductor science and technology, Jg. 23 (2008), Heft 1
    Online academicJournal
  3. WANG, Kuan-Ti ; HSUEH, Fang-Chang ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 33 (2012), Heft 6, S. 839-841
    Online academicJournal
  4. WANG, Kuan-Ti ; CHAO, Tien-Sheng ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 30 (2009), Heft 11, S. 1206-1208
    Online academicJournal
  5. SHEGELSKI, M. R. A ; FALTUS, S
    In: Solid state communications, Jg. 98 (1996), Heft 1, S. 87-97
    Online academicJournal
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
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