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  1. Shen, Chengjun ; Jahdi, Saeed ; et al.
    In: IEEE Open Journal of the Industrial Electronics Society, Jg. 3 (2022), S. 65-80
    Online academicJournal
  2. In: Electronics Newsweekly, 2024-04-30, S. 5804
    Zeitungsartikel
  3. MANDAPATI, R ; BORKAR, A ; et al.
    In: IEEE transactions on nanotechnology, Jg. 12 (2013), Heft 6, S. 1178-1184
    Online academicJournal
  4. SYU, Jin-Siang ; CHINCHUN, MENG ; et al.
    In: IEEE transactions on microwave theory and techniques, Jg. 59 (2011), Heft 12, S. 3195-3205
    Online academicJournal
  5. KU, Yeonwoo ; NAM, Ilku ; et al.
    In: IEEE transactions on microwave theory and techniques, Jg. 54 (2006), Heft 4, S. 1363-1369
    Online academicJournal
  6. MEYER, Jason ; KOCAN, Fatih
    In: IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, Jg. 15 (2007), Heft 2, S. 182-195
    Online academicJournal
  7. In: Electronics Newsweekly, 2023-04-11, S. 5757
    Zeitungsartikel
  8. IRITA, T ; TSUJITA, T ; et al.
    In: Implementating intelligence on silicon integrated circuits _ Part II: New architectures and algorithms, Jg. 24 (1998), Heft 1-2, S. 43-61
    Online academicJournal
  9. BANWELL, T. C
    In: IEEE transactions on circuits and systems. 2, Analog and digital signal processing, Jg. 42 (1995), Heft 3, S. 220-224
    Online academicJournal
  10. TAKENOSHITA, H ; TABUCHI, M
    In: Japanese journal of applied physics, Jg. 32 (1993), Heft 5B, S. 2521-2524
    academicJournal
  11. MOUIS, M ; GREGORY, H. J ; et al.
    In: Device modelling for the 1990s, Jg. 26 (1995), Heft 2-3, S. 255-259
    academicJournal
  12. Khumsat, P. ; Worapishet, A.
    In: IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON CIRCUITS AND SYSTEMS, Jg. 6 (2005), S. 5954-5957
    Konferenz
  13. NEINHÜS, B ; JUNGEMANN, C ; et al.
    In: Noise in devices and circuits III (24-26 May 2005, Austin, Texas, USA), 2005, S. 150-157
    Konferenz
  14. ENHAI, ZHAO ; KRITHIVASAN, Ramkumar ; et al.
    In: Noise in devices and circuits III (24-26 May 2005, Austin, Texas, USA), 2005, S. 132-142
    Konferenz
  15. Khumsat, P. ; Worapishet, A. ; et al.
    In: IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON ELECTRONICS CIRCUITS AND SYSTEMS, Jg. 3 (2001), S. 1131-1134
    Konferenz
  16. GREEN, David W ; HARDIKAR, S ; et al.
    In: ISPSD '04 (proceedings of the 16th International Symposium on Power Semiconductor Devices & ICs), 2004, S. 285-287
    Konferenz
  17. BALUCANI, M ; NENZI, P
    In: Signals and electronic systems (proceedings), 2005, S. 461-464
    Konferenz
  18. SZENDREL, Larry ; LEIBIGER, Steven ; et al.
    In: 2004 IEEE / SEMI advanced semiconductor manufacturing conference and workshop (Boston MA, May 4-6, 2004), 2004, S. 66-69
    Konferenz
  19. EINFELD, Jan ; SCHAPER, Ulrich ; et al.
    In: 2004 international conference on microelectronic test structures (March 22-25, 2004, S. 127-131
    Konferenz
  20. LIU, W ; CHANGHONG, DAI
    In: Japanese journal of applied physics, Jg. 31 (1992), Heft 4B, S. L452- (3S.)
    academicJournal
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