Suchergebnisse
UB Katalog
Artikel & mehr
Suchmaske
Suchergebnisse einschränken oder erweitern
Aktive Suchfilter
Weniger Treffer
Gefunden in
Art der Quelle
Schlagwort
- borradura 3 Treffer
- effacement 3 Treffer
- erasure 3 Treffer
- evaluacion prestacion 3 Treffer
- evaluation performance 3 Treffer
-
45 weitere Werte:
- performance evaluation 3 Treffer
- compound structure devices 2 Treffer
- condensed state physics 2 Treffer
- dispositif a memoire 2 Treffer
- dispositifs a structure composee 2 Treffer
- fiabilidad 2 Treffer
- fiabilite 2 Treffer
- gate oxide 2 Treffer
- grille transistor 2 Treffer
- magnetic and optical mass memories 2 Treffer
- memoires de masse magnetiques et optiques 2 Treffer
- memory devices 2 Treffer
- multilevel system 2 Treffer
- oxido rejilla 2 Treffer
- oxyde grille 2 Treffer
- physique de l'etat condense 2 Treffer
- rejilla transistor 2 Treffer
- reliability 2 Treffer
- sistema n niveles 2 Treffer
- stockage et lecture de l'information 2 Treffer
- storage and reproduction of information 2 Treffer
- systeme n niveaux 2 Treffer
- transistor gate 2 Treffer
- alto rendimiento 1 Treffer
- campo electrico 1 Treffer
- capa multimolecular 1 Treffer
- champ electrique 1 Treffer
- characteristics measurement 1 Treffer
- circuit logique 1 Treffer
- circuit non ou 1 Treffer
- circuit properties 1 Treffer
- circuito logico 1 Treffer
- circuito ni 1 Treffer
- circuits electriques, optiques et optoelectroniques 1 Treffer
- circuits electroniques 1 Treffer
- circuits numeriques 1 Treffer
- condensed matter: electronic structure, electrical, magnetic, and optical properties 1 Treffer
- couche mince 1 Treffer
- couche multimoleculaire 1 Treffer
- cristallographie cristallogenese 1 Treffer
- crystallography 1 Treffer
- densidad elevada 1 Treffer
- densite elevee 1 Treffer
- diffusion electron 1 Treffer
- difusion electron 1 Treffer
Verlag
Publikation
Sprache
5 Treffer
-
In: IEEE electron device letters, Jg. 28 (2007), Heft 3, S. 214-216Online academicJournalZugriff:
-
In: Semiconductor science and technology, Jg. 23 (2008), Heft 1Online academicJournalZugriff:
-
In: IEEE electron device letters, Jg. 33 (2012), Heft 6, S. 839-841Online academicJournalZugriff:
-
In: IEEE electron device letters, Jg. 30 (2009), Heft 11, S. 1206-1208Online academicJournalZugriff:
-
In: Solid state communications, Jg. 98 (1996), Heft 1, S. 87-97Online academicJournalZugriff: