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    Post-processing and performance analysis of BEOL integrated MEMS pressure sensor capacitors in 8-metal 130 nm CMOS
    ANANIAH DURAI, SUNDARARAJAN ; REZAUL HASAN, S. M
    In: Micro/Nano Devices and Systems 2013: An open thematic journal issue, Jg. 119 (2014), S. 89-94
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Monolithic z-axis CMOS MEMS accelerometer
    TSENG, Sheng-Hsiang ; WU, Po-Chang ; et al.
    In: Micro/Nano Devices and Systems 2013: An open thematic journal issue, Jg. 119 (2014), S. 178-182
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Proximity gettering of slow diffuser contaminants in CMOS image sensors
    RUSSO, F ; MOCCIA, G ; et al.
    In: Solid-state electronics, Jg. 91 (2014), S. 91-99
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    CMOS-MEMS switches based on back-end metal layers
    MUNOZ-GAMARRA, J. L ; VIDAL-ALVAREZ, G ; et al.
    In: Micro/Nano Devices and Systems 2013: An open thematic journal issue, Jg. 119 (2014), S. 127-130
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    An integrated electroless nickel plating process for fabrication of CMOS-MEMS probe chip
    LEE, Kuo-Yu ; HUANG, Jung-Tang ; et al.
    In: Microelectronic engineering, Jg. 113 (2013), S. 147-151
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Accurate operation of a CMOS integrated temperature sensor
    LI, JIANG ; WEISHENG, XU ; et al.
    In: Microelectronics journal, Jg. 41 (2010), Heft 12, S. 897-905
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    A wide dynamic range CMOS image sensor with pulse-frequency-modulation and in-pixel amplification
    YONG, CHEN ; FEI, YUAN ; et al.
    In: Microelectronics journal, Jg. 40 (2009), Heft 10, S. 1496-1501
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Nano-CMOS thermal sensor design optimization for efficient temperature measurement
    OKOBIAH, Oghenekarho ; MOHANTY, Saraju P ; et al.
    In: Integration (Amsterdam), Jg. 47 (2014), Heft 2, S. 195-203
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Analysis of ESD failure mechanism in 65nm bulk CMOS ESD NMOSFETs with ESD implant
    ALVAREZ, D ; ABOU-KHALIL, M. J ; et al.
    In: 17th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF 2006), Wuppertal, Germany, 3-6 October 2006, Jg. 46 (2006), Heft 9-11, S. 1597-1602
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Design of a fully CMOS compatible 3-μm size color pixel
    LANGFELDER, G
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 50 (2010), Heft 2, S. 169-173
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Reduction of the acquisition time for CMOS time-resolved photon emission by optimized IR detection
    ISPASOIU, Radu ; CRAWFORD, Tom ; et al.
    In: 17th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF 2006), Wuppertal, Germany, 3-6 October 2006, Jg. 46 (2006), Heft 9-11, S. 1504-1507
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Input match and load tank digital calibration of an inductively degenerated CMOS LNA
    WILSON, James ; ISMAIL, Mohammed
    In: AMF/RF[AMS/RF] CMOS Circuit Design for Wireless Transceivers, Jg. 42 (2009), Heft 1, S. 3-9
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    PNP PIN bipolar phototransistors for high-speed applications built in a 180 nm CMOS process
    KOSTOV, P ; GABERL, W ; et al.
    In: Selected Papers from the ESSDERC 2011 Conference, Jg. 74 (2012), S. 49-57
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Oscillation-controlled CMOS ring oscillator for wireless sensor systems
    LEE, Wang-Hoon ; GU, Bon-Ju ; et al.
    In: Microelectronics journal, Jg. 41 (2010), Heft 12, S. 815-819
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    A CMOS low-voltage low-power temperature sensor
    CREPALDI, Paulo Cesar ; CLEBER PIMENTA, Tales ; et al.
    In: Microelectronics journal, Jg. 41 (2010), Heft 9, S. 594-600
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    An integrated readout circuit for personal dosimetry with phase-shift compensation technique to improve stability
    ZHANG, YACONG ; LI, JING ; et al.
    In: Microelectronics journal, Jg. 42 (2011), Heft 2, S. 334-340
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Light emission efficiency and imaging performance of LU2O3:Eu nanophosphor under X-ray radiography conditions: Comparison with Gd2O2S:Eu
    SEFERIS, I ; MICHAIL, C ; et al.
    In: Journal of luminescence, Jg. 151 (2014), S. 229-234
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Current mode read-out circuit for InGaAs photodiode applications
    FERREIRA, Pietro M ; GOMES, José Gabriel R. C ; et al.
    In: Microelectronics journal, Jg. 41 (2010), Heft 7, S. 388-394
    academicJournal
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Design and modeling of a mosfet-only second order delta-sigma modulator
    GOMEZ CAMA, J. Ma ; BOTA, S. A ; et al.
    In: ADC modelling and testing, Jg. 31 (2002), Heft 1, S. 15-21
    Konferenz
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    A low flicker noise direct conversion receiver for IEEE 802.11g wireless LAN using differential active inductor
    ABDELGHANY, M. A ; POKHAREL, R. K ; et al.
    In: Microelectronics journal, Jg. 42 (2011), Heft 2, S. 283-290
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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