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In: Integration (Amsterdam), Jg. 47 (2014), Heft 1, S. 48-61academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics and reliability, Jg. 51 (2011), Heft 12, S. 2357-2365academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics journal, Jg. 41 (2010), Heft 9, S. 585-593academicJournalZugriff:
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In: Integration (Amsterdam), Jg. 45 (2012), Heft 1, S. 33-45academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics journal, Jg. 40 (2009), Heft 1, S. 156-176academicJournalZugriff:
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In: Special Issue Devoted to the 2nd International Memory Workshop (IMW 2010), Jg. 58 (2011), Heft 1, S. 54-61academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics and reliability, Jg. 54 (2014), Heft 1, S. 64-70academicJournalZugriff:
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In: Integration (Amsterdam), Jg. 46 (2013), Heft 4, S. 333-344academicJournalZugriff:
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In: 16th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF 2005), Arcachon, France, October 10-14, Jg. 45 (2005), Heft 9-11, S. 1406-1414KonferenzZugriff:
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In: Microelectronics journal, Jg. 41 (2010), Heft 10, S. 662-668academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics journal, Jg. 42 (2011), Heft 1, S. 43-51academicJournalZugriff:
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In: Solid-state electronics, Jg. 54 (2010), Heft 5, S. 564-567academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics journal, Jg. 42 (2011), Heft 2, S. 334-340academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics journal, Jg. 42 (2011), Heft 5, S. 701-708academicJournalZugriff:
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In: Integration (Amsterdam), Jg. 42 (2009), Heft 4, S. 457-467academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics journal, Jg. 39 (2008), Heft 12, S. 1880-1886academicJournalZugriff:
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In: Selected extended papers from ULIS 2012 conference, Jg. 88 (2013), S. 27-31academicJournalZugriff:
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In: Integration (Amsterdam), Jg. 47 (2014), Heft 4, S. 431-442academicJournalZugriff:
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In: Integration (Amsterdam), Jg. 47 (2014), Heft 1, S. 62-70academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics and reliability, Jg. 53 (2013), Heft 12, S. 2057-2069academicJournalZugriff: