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  1. FOROUTAN, Vahid ; MOHAMMAD REZA, TAHERI ; et al.
    In: Integration (Amsterdam), Jg. 47 (2014), Heft 1, S. 48-61
    academicJournal
  2. MANDE, Sudhakar S ; CHANDORKAR, Saurabh A ; et al.
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 51 (2011), Heft 12, S. 2357-2365
    academicJournal
  3. JIE, YUAN ; HO YEUNG, CHAN
    In: Microelectronics journal, Jg. 41 (2010), Heft 9, S. 585-593
    academicJournal
  4. MOHANTY, Saraju P ; SINGH, Jawar ; et al.
    In: Integration (Amsterdam), Jg. 45 (2012), Heft 1, S. 33-45
    academicJournal
  5. DE LA ROSA, José M ; CASTRO-LOPEZ, Rafael ; et al.
    In: Microelectronics journal, Jg. 40 (2009), Heft 1, S. 156-176
    academicJournal
  6. GOPALAN, C ; MA, Y ; et al.
    In: Special Issue Devoted to the 2nd International Memory Workshop (IMW 2010), Jg. 58 (2011), Heft 1, S. 54-61
    academicJournal
  7. CHIU, Po-Yen ; KER, Ming-Dou
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 54 (2014), Heft 1, S. 64-70
    academicJournal
  8. AHMAD, Nabihah ; REZAUL HASAN, S. M
    In: Integration (Amsterdam), Jg. 46 (2013), Heft 4, S. 333-344
    academicJournal
  9. BOSELLI, G ; DUVVURY, C
    In: 16th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF 2005), Arcachon, France, October 10-14, Jg. 45 (2005), Heft 9-11, S. 1406-1414
    Konferenz
  10. LEE, Kyoung-Su ; CHUN, Jung-Hoon ; et al.
    In: Microelectronics journal, Jg. 41 (2010), Heft 10, S. 662-668
    academicJournal
  11. YANG, Wei-Bin ; LIAO, Chao-Cheng ; et al.
    In: Microelectronics journal, Jg. 42 (2011), Heft 1, S. 43-51
    academicJournal
  12. HU, Chan-Yuan ; CHEN, Jone F ; et al.
    In: Solid-state electronics, Jg. 54 (2010), Heft 5, S. 564-567
    academicJournal
  13. ZHANG, YACONG ; LI, JING ; et al.
    In: Microelectronics journal, Jg. 42 (2011), Heft 2, S. 334-340
    academicJournal
  14. MOSTAFA ABDOLLAHIAN, DEHKORDI ; ABBAS SHAHINI, SHAMSABADI ; et al.
    In: Microelectronics journal, Jg. 42 (2011), Heft 5, S. 701-708
    academicJournal
  15. NAVI, Keivan ; MAEEN, Mehrdad ; et al.
    In: Integration (Amsterdam), Jg. 42 (2009), Heft 4, S. 457-467
    academicJournal
  16. JEONG, Taikyeong T
    In: Microelectronics journal, Jg. 39 (2008), Heft 12, S. 1880-1886
    academicJournal
  17. FLACHOWSKY, S ; HERRMANN, T ; et al.
    In: Selected extended papers from ULIS 2012 conference, Jg. 88 (2013), S. 27-31
    academicJournal
  18. WEY, I-Chyn ; SHEN, Ye-Jhih
    In: Integration (Amsterdam), Jg. 47 (2014), Heft 4, S. 431-442
    academicJournal
  19. MORGENSHTEIN, Arkadiy ; YUZHANINOV, Viacheslav ; et al.
    In: Integration (Amsterdam), Jg. 47 (2014), Heft 1, S. 62-70
    academicJournal
  20. WEY, I-Chyn ; LAN, Yi-Jung ; et al.
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 53 (2013), Heft 12, S. 2057-2069
    academicJournal
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