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17 Treffer

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    Study on the ESD-Induced Gate-Oxide Breakdown and the Protection Solution in 28nm High-K Metal-Gate CMOS Technology
    Lin, Chun-Yu ; Ker, Ming-Dou ; et al.
    2015
    Online report
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Improving ESD Robustness of Stacked Diodes with Embedded SCR for RF Applications in 65-nm CMOS
    Lin, Chun-Yu ; Fan, Mei-Lian ; et al.
    2014
    Online report
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    ESD Protection Structure with Inductor-Triggered SCR for RF Applications in 65-nm CMOS Process
    Lin, Chun-Yu ; Chu, Li-Wei ; et al.
    2012
    Online report
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Compact and Low-Loss ESD Protection Design for V-Band RF Applications in a 65-nm CMOS Technology
    Chu, Li-Wei ; Lin, Chun-Yu ; et al.
    2012
    Online report
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Resistor-Less Power-Rail ESD Clamp Circuit with Ultra-Low Leakage Current in 65nm CMOS Process
    Yeh, Chih-Ting ; Ker, Ming-Dou ; et al.
    2013
    Online report
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    The impact of inner pickup on ESD robustness of multi-finger NMOS in nanoscale CMOS technology
    Ker, Ming-Dou ; Hsu, Hsin-Chyh ; et al.
    2006
    Online report
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Ultra-Low-Leakage Power-Rail ESD Clamp Circuit in Nanoscale Low-Voltage CMOS Process
    Chiu, Po-Yen ; Ker, Ming-Dou ; et al.
    2009
    Online report
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Low-Leakage Electrostatic Discharge Protection Circuit in 65-nm Fully-Silicided CMOS Technology
    Wang, Chang-Tzu ; Ker, Ming-Dou ; et al.
    2009
    Online report
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Novel electrostatic discharge protection design for nanoelectronics in nanoscale CMOS technology
    Ker, MD ; Tseng, TK ; et al.
    2003
    Online report
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Latchup-like failure of power-rail ESD clamp circuits in CMOS integrated circuits under system-level ESD test
    Ker, Ming-Dou ; Yen, Cheng-Cheng ; et al.
    2007
    Online report
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    ESD Protection Design with Low-Leakage Consideration for Silicon Chips of IoT Applications
    Ker, Ming-Don ; Lin, Chun-Yu ; et al.
    2017
    Online report
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    On-Chip ESD Protection Designs in RF Integrated Circuits for Radio and Wireless Applications
    Ker, Ming-Dou ; Lin, Chun-Yu ; et al.
    2013
    Online report
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    On-chip Transient Detection Circuit for Microelectronic Systems against Electrical Transient Disturbances due to ESD Events
    Chen, Wen-Chieh ; Ker, Ming-Dou ; et al.
    2018
    Online report
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    New On-Chip Transient Detection Circuit to Improve Electromagnetic Susceptibility of Microelectronic Systems
    Kang, Xiao-Rui ; Ker, Ming-Dou ; et al.
    2017
    Online report
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Improvement on CDM ESD Robustness of High-Voltage Tolerant nLDMOS SCR Devices by Using Differential Doped Gate
    Chen, S. H. ; Linten, D. ; et al.
    2014
    Online report
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    SCR Device for On-Chip ESD Protection in RF Power Amplifier
    Lin, Chun-Yu ; Ker, Ming-Dou ; et al.
    2013
    Online report
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Transient Detection Circuit for System-Level ESD Protection and Its On-Board Behavior with EMI/EMC Filters
    Ker, Ming-Dou ; Liao, Chi-Sheng ; et al.
    2008
    Online report
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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