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  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Pin-Gap Correction of Coaxial Calibration Standards for TRL or LRL Calibration
    Koo, H. ; Cho, C. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 10 (2022), S. 34779-34788
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Evaluation of coaxial V-connector LRL impedance standards for the 65 GHz vector network analyzer
    Lee, Yeou-Song
    In: 61st ARFTG Conference Digest, Spring, 2003, S. 171-177
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Multimode TRL and LRL calibrated measurements of differential devices
    Buber, T. ; Rodriguez, A. ; et al.
    In: 64th ARFTG Microwave Measurements Conference, Fall, 2004, S. 157-166
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    LRL/LRM modifications for sinlified high frequency multiport/differential measurements
    Martens, J. ; Judge, D. ; et al.
    In: 64th ARFTG Microwave Measurements Conference, Fall, 2004, S. 147-156
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Comparison of lrl(m), trm, trrm and tar, calibration techniques using the straightforward de-embedding method
    Reynoso-Hernandez, J.A. ; Inzunza-Gonzalez, E.
    In: 59th ARFTG Conference Digest, Spring, 2002, S. 93-98
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    An innovative waveguide interface and quarter-wavelength shim for the 220∓325 GHz band
    Lau, Yuenie S. ; Vondran, David J.
    In: 80th ARFTG Microwave Measurement Conference, 2012-11-01, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    From Pre-Training to Meta-Learning: A Journey in Low-Resource-Language Representation Learning
    Zaikis, D. ; Vlahavas, I.
    In: IEEE Access, Jg. 11 (2023), S. 115951-115967
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    A Novel lncRNA-Disease Association Prediction Model Using Laplacian Regularized Least Squares and Space Projection-Federated Method
    Chen, M. ; Peng, Y. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 8 (2020), S. 111614-111625
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    5.8-GW Discharge Brick for Linear Transformer Driver
    Jiang, H. ; Jiang, X. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Plasma Science, Jg. 50 (2022-11-01), Heft 11, S. 4718-4723
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Bilingual Lexical Induction for Sinhala-English using Cross Lingual Embedding Spaces
    Liyanage, Anushika ; Ranathunga, Surangika ; et al.
    In: 2021 Moratuwa Engineering Research Conference (MERCon), 2021-07-27, S. 579-584
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    P2B-1 Synthetic Aperture Focusing Applied to Imaging Using a Rotating Single Element Transducer
    Kortbek, J. ; Jensen, J.A. ; et al.
    In: 2007 IEEE Ultrasonics Symposium Proceedings, 2007-10-01, S. 1504
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Corpulyzer: A Novel Framework for Building Low Resource Language Corpora
    Tahir, B. ; Mehmood, M.A.
    In: IEEE Access, Jg. 9 (2021), S. 8546-8563
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Measurement of rectifying diode impedance and efficiency for energy harvesting applications
    Milosevic, Branka ; Radovanovic, Milos ; et al.
    In: IEEE EUROCON 2019 -18th International Conference on Smart Technologies, 2019-07-01, S. 1-5
    Konferenz
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Characterization of Thin-Film Calibration Elements
    Williams, Frank
    In: 38th ARFTG Conference Digest, Jg. 20 (1991-12-01), S. 25
    Konferenz
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Enhanced vector calibration of load-pull measurement systems
    Aldoumani, A. ; Williams, Tudor ; et al.
    In: 83rd ARFTG Microwave Measurement Conference, 2014-06-01, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Denoising and error correction in wireless sensor networks
    Ling, Qing ; Wu, Gang ; et al.
    In: 2010 13th International Conference on Information Fusion, 2010-07-01, S. 1-8
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    CMOS circuit design for millimeter-wave applications
    Shigematsu, H. ; Hirose, T. ; et al.
    In: 2004 IEE Radio Frequency Integrated Circuits (RFIC) Systems. Digest of Papers, 2004, S. 123-126
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Accuracy study on the newly introduced Anritsu W1-connector calibration and verification kit
    Lee, Yeou-Song ; Roberts, T.
    In: Conference, 2003. Fall 2003. 62nd ARFTG Microwave Measurements, 2003, S. 109-118
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Microwave non-destructive testing of semiconductor wafers in the frequency range 8-12.5 GHz
    Muhamad, F. ; Baba, N.H. ; et al.
    In: ICONIP '02. Proceedings of the 9th International Conference on Neural Information Processing. Computational Intelligence for the E-Age (IEEE Cat. No.02EX575), Semiconductor Electronics, 2002. Proceedings. ICSE 2002. IEEE, 2002, S. 561-565
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Design of components for a 7-16 precision calibration kit using the high frequency structure simulator
    Szendrenyi, B.B.
    In: 52nd ARFTG Conference Digest. Automatic RF Techniques Group. Computer-Aided Design and Test for High-Speed Electronics (IEEE Cat. No.98EX245), 1998, S. 101-105
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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