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151 Treffer

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    Low-Frequency Noise of 4H-SiC CMOS Technology for Analog ICs
    Masunaga, M.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 70 (2023-06-01), Heft 6, S. 3228-3233
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    The Modeling and Optimization of Line Width Roughness in Polysilicon Gate for Improving the Performance of CMOS Device
    Wang, Yaoting ; Kong, Mengshu ; et al.
    In: 2024 Conference of Science and Technology for Integrated Circuits (CSTIC), 2024-03-17, S. 1-3
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Nanoscale CMOS Biasing Circuit for Analog Applications: The Impact of NBTI Degradation
    Vijay, Ashish ; Duari, Chusen ; et al.
    In: 2023 International Conference for Advancement in Technology (ICONAT), 2023-01-24, S. 1-3
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    An alternative radiation hardened by layout design in a CMOS technology
    Ortega, Carlos Alfredo Pelcastre ; Aranda, Monico Linares
    In: 2022 IEEE Latin American Electron Devices Conference (LAEDC), 2022-07-04, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Analysis of the Endurance of CMOS IC Elements to Failures after Charged Particle Strike
    Smirnova, Vera P. ; Krupkina, Tatiana Y. ; et al.
    In: 2022 Conference of Russian Young Researchers in Electrical and Electronic Engineering (ElConRus), 2022-01-25, S. 447-450
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    A Low Power CMOS Operational Transconductance Amplifier with Improved CMRR
    Maia, Nedson J. ; Sanchez, Arnaldo R. ; et al.
    In: 2020 32nd International Conference on Microelectronics (ICM), 2020-12-14, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    58-GHz Up-Conversion Mixer Using Capacitive Cross-Coupling Neutralization in 180-nm CMOS Technology
    Sahara, Kenta ; Takano, Kyoya ; et al.
    In: 2021 13th Global Symposium on Millimeter-Waves & Terahertz (GSMM), 2021-05-23, S. 1-3
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Designing EDA-Compatible Cryogenic CMOS Platform for Quantum Computing Applications
    Wang, Zewei ; Cao, Chengwei ; et al.
    In: 2021 5th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM), 2021-04-08, S. 1-3
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    A Complete Model of Gate Controlled Lateral PNP Devices in CMOS Technology Valid in All Regions of Operation
    Tan, Wei Zheng ; Yew Tan, Philip Beow ; et al.
    In: 2020 4th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM), 2020-04-01, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Characterization and Modeling of 0.18μm Bulk CMOS Technology at Sub-Kelvin Temperature
    Lu, T. ; Li, Z. ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 8 (2020), S. 897-904
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    A Multi Valued Logic VHDL Package for Switch Level Simulation of Novel Digital CMOS Circuits
    Keresztes, Peter ; Tukacs, Attila ; et al.
    In: 2018 International Conference on Recent Innovations in Electrical, Electronics & Communication Engineering (ICRIEECE), 2018-07-01, S. 25-28
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    An Improved Small Signal Equivalent Circuit Modeling Based On 65nm CMOS Technology
    Yang, Kunyu ; Wu, Yunqiu ; et al.
    In: 2019 IEEE Asia-Pacific Microwave Conference (APMC), 2019-12-01, S. 702-704
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Cryogenic CMOS RF Device Modeling for Scalable Quantum Computer Design
    Tang, Z. ; Wang, Z. ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 10 (2022), S. 532-539
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    New insights on the excess 1/f noise at cryogenic temperatures in 28 nm CMOS and Ge MOSFETs for quantum computing applications
    Asanovski, R. ; Grill, A. ; et al.
    In: 2022 International Electron Devices Meeting (IEDM), 2022-12-03, S. 1
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Design and Characterization of the Junction Isolation Structure for Monolithic Integration of Planar CMOS and Vertical Power MOSFET on 4H-SiC up to 300 °C
    Tsui, Bing-Yue ; Tsai, Te-Kai ; et al.
    In: 2022 International Electron Devices Meeting (IEDM), 2022-12-03, S. 1
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    High temperature submicron SOI CMOS technology characterization for analog and digital applications up to 300°C
    Petrosyants, Konstantin O. ; Lebedev, Sergey V. ; et al.
    In: 2017 33rd Thermal Measurement, Modeling & Management Symposium (SEMI-THERM), 2017, S. 229-234
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Effects of Spacer and Single-Charge Trap on Voltage Transfer Characteristics of Gate-All-Around Silicon Nanowire CMOS Devices and Circuits
    Kola, Sekhar Reddy ; Li, Yiming ; et al.
    In: 2020 IEEE 20th International Conference on Nanotechnology (IEEE-NANO), 2020-07-01, S. 217-220
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Influence of Negative DIBL Effect on MOSFET Effective Drive Current and CMOS Circuit
    Huang, Weixing ; Zhu, Huilong ; et al.
    In: 2021 China Semiconductor Technology International Conference (CSTIC), 2021-03-14, S. 1-3
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Improved Switching Speed of a CMOS Inverter Using Work-Function Modulation Engineering
    Jena, B. ; Dash, S. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 65 (2018-06-01), Heft 6, S. 2422-2429
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Modeling of CMOS Transistors from 0.18µm Process by Artificial Neural Network
    Wei, Jia ; Hao. ; et al.
    In: 2021 China Semiconductor Technology International Conference (CSTIC), 2021-03-14, S. 1-3
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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