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  1. Zhang, D. ; Guo, Y. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 71 (2024), Heft 1, S. 412-417
    Online academicJournal
  2. Sharma, Ayushi ; Goel, Ravi ; et al.
    In: 2023 7th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM), 2023-03-07, S. 1-3
    Konferenz
  3. Eliseeva, Daria A.
    In: 2022 Conference of Russian Young Researchers in Electrical and Electronic Engineering (ElConRus), 2022-01-25, S. 950-954
    Konferenz
  4. Du, Y. ; Hassan, M.K. ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 8 (2020), S. 1039-1042
    Online academicJournal
  5. Pang, Yon-Sup ; Park, Sung-Bum ; et al.
    In: 2016 IEEE Region 10 Conference (TENCON), 2016-11-01, S. 3049-3053
    Konferenz
  6. Teng, Qiao ; Wu, Yongyu ; et al.
    In: 2024 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2024-04-14, S. 1-4
    Konferenz
  7. Ma, Weiwei ; Sun, Chao ; et al.
    In: 2019 China Semiconductor Technology International Conference (CSTIC), 2019-03-01, S. 1-3
    Konferenz
  8. Liu, Lequn Jennifer ; Mikhalev, Vladimir ; et al.
    In: 2014 IEEE Workshop On Microelectronics And Electron Devices (WMED), 2014-04-01, S. 1-3
    Konferenz
  9. Kimura, M.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 59 (2012-03-01), Heft 3, S. 705-709
    Online academicJournal
  10. Tahi, H. ; Djezzar, B. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, Jg. 11 (2011-03-01), Heft 1, S. 131-140
    Online academicJournal
  11. Tahi, H. ; Djezzar, B. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 57 (2010-11-01), Heft 11, S. 2892-2901
    Online academicJournal
  12. Yan, R. ; Duane, R. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 57 (2010-06-01), Heft 6, S. 1319-1326
    Online academicJournal
  13. Tahi, H. ; Djezzar, B. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, Jg. 10 (2010-03-01), Heft 1, S. 108-115
    Online academicJournal
  14. Chiranu, Giorgiana-Catalina ; Babarada, Florin
    In: 2015 International Semiconductor Conference (CAS), 2015-10-01, S. 263-266
    Konferenz
  15. Kimura, M. ; Taya, J. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 33 (2012-05-01), Heft 5, S. 682-684
    Online academicJournal
  16. Chang, G. W. ; Chang, T. C. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 32 (2011-08-01), Heft 8, S. 1038-1040
    Online academicJournal
  17. Nakashima, A. ; Kimura, M.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 32 (2011-06-01), Heft 6, S. 764-766
    Online academicJournal
  18. Guo, J. C.
    In: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, Jg. 20 (2007-08-01), Heft 3, S. 313-322
    Online academicJournal
  19. Gupta, D. ; Vishvakarma, S.K.
    In: IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, Jg. 16 (2016-09-01), Heft 3, S. 298-298
    Online academicJournal
  20. Huang, Kai-Ye ; Wang, Po-Chih ; et al.
    In: 2008 IEEE Radio Frequency Integrated Circuits Symposium, 2008-06-01, S. 263
    Konferenz
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