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    (Invited) How to Integrate MEMS on Foundry-Fabricated CMOS Backplanes
    Schulze, Matthias ; Hohle, Christoph ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 80 (2017-08-01), S. 147-155
    Online unknown
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    (Invited) Hot Carrier Reliability of High Voltage HVMOSFETs in BCD (Bipolar-CMOS-DMOS) Technology
    Hao, Jifa
    In: ECS Transactions, Jg. 77 (2017-04-18), S. 85-93
    Online unknown
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    (Invited) Material and Device Integration for Hybrid III-V/SiGe CMOS Technology
    Sousa, Marilyne ; O'Connor, Eamon ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 69 (2015-09-14), S. 131-142
    Online unknown
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    (Invited) Pixel-Parallel CMOS Image Sensors with 16-Bit A/D Converters Developed by 3-D Integration of SOI Layers with Au/SiO2 Hybrid Bonding
    Hiramoto, Toshiro ; Honda, Yuki ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 72 (2016-04-25), S. 3-6
    Online unknown
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    (Invited) Factors Impacting Threshold Voltage in Advanced CMOS Integration: Gate Last (FINFET) vs. Gate First (FDSOI)
    Luning, Scott ; Kluth, Jon ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 69 (2015-09-08), S. 103-110
    Online unknown
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    (Invited) Wafer Bonding: An Integration Route for Hybrid III-V/SiGe CMOS on 300mm
    Hartmann, Jean-Michel ; Djara, Vladimir ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 64 (2014-08-14), S. 199-209
    Online unknown
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    (Invited) White-Light-Induced Annihilation of Percolation Paths in SiO2 and High-k Dielectrics - Prospect for Gate Oxide Reliability Rejuvenation and Optical-Enabled Functions in CMOS Integrated Circuits
    Kwang Sing Yew ; Kawashima, Tomohito ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 69 (2015-09-08), S. 169-181
    Online unknown
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    (Invited) Development of Novel Three-Dimensional Structuring of Integrated Circuits by Using Low Temperature Direct Bonding for CMOS Image Sensors
    Hiramoto, Toshiro ; Higurashi, Eiji ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 61 (2014-03-19), S. 87-90
    Online unknown
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    Exploratory NEMS-CMOS Hybrid Devices for Post CMOS Era
    Byoung Hun Lee
    In: ECS Transactions, Jg. 18 (2009-03-06), S. 857-862
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    (Invited) Commercial CMOS-Integrated RF-MEMS
    Morris, Art ; Cunningham, Shawn J.
    In: ECS Transactions, Jg. 53 (2013-05-03), S. 255-263
    Online unknown
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    (Invited) Ge Photodiodes for CMOS Photonics Optical Engines and Interconnects
    Masini, G. ; Sahni, S.
    In: ECS Transactions, Jg. 50 (2013-03-15), S. 773-777
    Online unknown
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    CMOS Technology Toward Green
    Wu, Hanming ; Chi, Min-hwa
    In: ECS Transactions, Jg. 27 (2010-11-23), S. 27-32
    Online unknown
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    Study of CMOS-compatible Copper Etching for Organic Coating
    Magali Huguette Alice Lambert ; Rostam-Khani, Patrick ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 25 (2009-09-25), S. 55-62
    Online unknown
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    III-V/Ge Channel Engineering for Future CMOS
    Cagnon, Joël ; Thibeault, Brian ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 19 (2009-05-15), S. 361-372
    Online unknown
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    (Invited) Contacts in Advanced CMOS: History and Emerging Challenges
    Jean S. Jordan Sweet ; Lavoie, Christian ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 77 (2017-04-26), S. 59-79
    Online unknown
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Revolutionary Nanoelectronic Devices and Processes for Post 32nm CMOS Era
    Nishi, Yoshio
    In: ECS Transactions, Jg. 19 (2009-05-15), S. 3-14
    Online unknown
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Front-End Process Technology for hp65/45 CMOS Devices
    Nara, Yasuo ; Ootsuka, Fumio ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 2 (2006-04-28), S. 27-31
    Online unknown
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    (ZrO2)x(La2O3)1-x Alloy as High-k Gate Dielectric for Advanced CMOS Devices
    Wu, Yung-Hsien ; Wu, Jia-Rong ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 33 (2010-10-01), S. 203-209
    Online unknown
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    Stress Characterization of Polycrystalline Silicon for Advanced CMOS Technologies
    Chen, Yuanning ; Mercer, Doug ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 3 (2006-10-20), S. 225-232
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    (Invited) Challenges on Surface Conditioning in 3D Device Architectures: Triple-Gate FinFETs, Gate-All-Around Lateral and Vertical Nanowire FETs
    Vecchio, E. ; Loo, Roger ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 80 (2017-08-15), S. 3-20
    Online unknown
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