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    Development of a simulator for analyzing some performance parameters of nanoscale strained silicon MOSFET-based CMOS inverters
    Das, Mukul K. ; Kumari, Amrita ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 55 (2016-09-01), S. 8-18
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    Parameter variation aware hybrid TFET-CMOS based power gating technique with a temperature variation tolerant sleep mode
    Mishra, Abhishek ; Jha, Kamal K. ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 45 (2014-11-01), S. 1515-1521
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    High-speed reduced-leakage SRAM memory cell design techniques for low-power 65 nm FD-SOI/SON CMOS technology
    Subir Kumar Sarkar ; Saha, Deepon
    In: Microelectronics Journal, Jg. 45 (2014-07-01), S. 848-856
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    A DC offset and CMRR analysis in a CMOS 0.35μm operational transconductance amplifier using Pelgrom's area/accuracy tradeoff
    Brito, Juan P. ; Bampi, Sergio
    In: Microelectronics Journal, Jg. 40 (2009-09-01), S. 1281-1292
    Online unknown
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    Nanosculpture: Three-dimensional CMOS device structures for the ULSI era
    Jong Pil Kim ; Cho, Seongjae ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 40 (2009-04-01), S. 769-772
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    Potential and problems of high-temperature electronics and CMOS integrated circuits (25–250°C) - an overview
    Shoucair, F.S.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 22 (1991-04-01), S. 39-54
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    First integration of MOSFET band-to-band-tunneling current in BSIM4
    Nenzi, Paolo ; Olivieri, Mauro ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 44 (2013), S. 26-32
    Online unknown
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    Multi-objective genetic algorithms based approach to optimize the electrical performances of the gate stack double gate (GSDG) MOSFET
    Bendib, T. ; Djeffal, Fayçal
    In: Microelectronics Journal, Jg. 42 (2011-05-01), S. 661-666
    Online unknown
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    Gated hybrid Hall effect device on silicon
    Porod, Wolfgang ; Carter, Nicholas P. ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 36 (2005-03-01), S. 294-297
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    Impact of technology scaling on thermal behavior of leakage current in sub-quarter micron MOSFETs: perspective of low temperature current testing
    Semenov, O. ; Vassighi, A. ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 33 (2002-11-01), S. 985-994
    Online unknown
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    Design and performance analysis of cylindrical surrounding double-gate MOSFET for RF switch
    Singh, Ghanshyam ; Srivastava, Viranjay M. ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 42 (2011-10-01), S. 1124-1135
    Online unknown
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    A novel current reference based on subthreshold MOSFETs with high PSRR
    Guoyi, Yu ; Xuecheng, Zou
    In: Microelectronics Journal, Jg. 39 (2008-12-01), S. 1874-1879
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    Design of adaptive supply voltage for sub-threshold logic based on sub-1V bandgap reference circuit
    Teh, Ying-Khai ; Mamun Bin Ibne Reaz ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 39 (2008), S. 24-29
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    Perspectives and challenges in nanoscale device modeling
    Iannaccone, Giuseppe
    In: Microelectronics Journal, Jg. 36 (2005-07-01), S. 614-618
    Online unknown
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    Analysis and design of a new SRAM memory cell based on vertical lambda bipolar transistor
    Wang, Shang-Ming ; Wu, Ching-Yuan
    In: Microelectronics Journal, Jg. 34 (2003-09-01), S. 855-863
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    MOSFET-based temperature sensor for standard BCD smart power technology
    Samitier, Josep ; Puig-Vidal, Manel ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 32 (2001-10-01), S. 869-873
    Online unknown
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    Silicon-on-insulator power integrated circuits
    Garner, D.M. ; Ensell, G. ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 32 (2001-05-01), S. 517-526
    Online unknown
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Downsizing of silicon MOSFETs beyond 0.1 μm
    Iwai, Hiroshi
    In: Microelectronics Journal, Jg. 29 (1998-10-01), S. 671-678
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    A multi-port low-power current mode PUF using MOSFET current-division deviation in 65 nm technology
    Zhang, Yuejun ; Zhang, Huihong ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 67 (2017-09-01), S. 169-175
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    A 0.6 V 31 nW 25 ppm/°C MOSFET-only sub-threshold voltage reference
    Zhu, Zhangming ; Liang, Yuhua
    In: Microelectronics Journal, Jg. 66 (2017-08-01), S. 25-30
    Online unknown
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