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    Overview of methodologies for initial design of CMOS integrated circuits in deep submicron processes in different regions of inversion
    Radev, Aleksandar Petkov
    In: 2023 XXXII International Scientific Conference Electronics (ET), 2023-09-13, S. 1-6
    Konferenz
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    A Calibrated Memristor Model Implementation for an SR-Latch Based on CMOS-Memristor Technology
    Gavilanez, Martin ; Guitarra, Silvana
    In: 2024 IEEE 15th Latin America Symposium on Circuits and Systems (LASCAS), 2024-02-27, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    CMOS-Based Single-Cycle in-Memory XOR/XNOR
    Alam, S. ; Hutchins, J. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 12 (2024), S. 49528-49534
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Subthreshold Modeling of a Tunable CMOS Schmitt Trigger
    Nowbahari, A. ; Marchetti, L. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 11 (2023), S. 10977-10984
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Low Power High Speed Full Adder Design Using CMOS Memristor Hybrid Circuits
    Mishra, Ayush ; Singh, Kunwar
    In: 2022 2nd International Conference on Intelligent Technologies (CONIT), 2022-06-24, S. 1-7
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    CMOS Noise Analysis and Simulation From Low Frequency and Baseband to RF and Millimeter Wave
    Michailidis, A. ; Noulis, T. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 11 (2023), S. 39807-39823
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    PAElib 2.0: Power&Area Aware Modeling of CMOS Digital Circuits in VHDL
    Sandor, Kirei Botond ; Farcas, Calin Adrian ; et al.
    In: 2020 43rd International Conference on Telecommunications and Signal Processing (TSP), 2020-07-01, S. 333-336
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Experimental Monitoring of Aging in CMOS RF Linear Power Amplifiers: Correlation Between Device and Circuit Degradation
    Rodriguez, Rosana ; Crespo-Yepes, Albert ; et al.
    In: 2020 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2020-04-01, S. 1-7
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Statistical Strategies to Capture Correlation Between Overshooting Effect and Propagation Delay Time in Nano-CMOS Inverters
    Jooypa, H. ; Dideban, D. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 9 (2021), S. 65340-65345
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Uncertainty Quantification of CMOS Active Filter Circuits: A Non-Intrusive Computational Approach Based on Generalized Polynomial Chaos
    Duman, M.E. ; Suvak, O.
    In: IEEE Access, Jg. 8 (2020), S. 189246-189261
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Memristor-CMOS Hybrid Implementation of Leaky Integrate and Fire Neuron Model
    Zohora, Fatima Tuz ; Debnath, Sutapa ; et al.
    In: 2019 International Conference on Electrical, Computer and Communication Engineering (ECCE), 2019-02-01, S. 1-5
    Konferenz
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Automatic Structure Generation and Parameter Optimization for CMOS Voltage Reference Circuit
    Li, J. ; Zeng, Y. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 8 (2020), S. 54303-54313
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    A 15-μW 105-dB 1.8-Vpp Potentiostatic Delta-Sigma Modulator for Wearable Electrochemical Transducers in 65-nm CMOS Technology
    Aymerich, J. ; Marquez, A. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 8 (2020), S. 62127-62136
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    From MTJ Device to Hybrid CMOS/MTJ Circuits: A Review
    Joshi, V.K. ; Barla, P. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 8 (2020), S. 194105-194146
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    A Multi Valued Logic VHDL Package for Switch Level Simulation of Novel Digital CMOS Circuits
    Keresztes, Peter ; Tukacs, Attila ; et al.
    In: 2018 International Conference on Recent Innovations in Electrical, Electronics & Communication Engineering (ICRIEECE), 2018-07-01, S. 25-28
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Linearity Analysis of CMOS Parametric Upconverters
    Zhao, Z. ; Magierowski, S. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 8 (2020), S. 190906-190921
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Experimental Investigation of Charge Sharing Induced SET Depending on Transistors in Abutted Rows in 65 nm Bulk CMOS Technology
    He, X. ; Yue, D. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 10 (2022), S. 57362-57368
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    A Low-Phase-Noise CMOS Ring Voltage-Controlled Oscillator Intended for Time-Based Sensor Interfaces
    Esmaeilzadeh, M. ; Audet, Y. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 10 (2022), S. 101186-101197
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Design and simulation of a CMOS compatible pH-ISFET readout circuit, with low thermal sensitivity
    Harrak, Abdelkhalak ; Naimi, Salah Eddine
    In: 2017 International Conference on Electrical and Information Technologies (ICEIT), 2017-11-01, S. 1-6
    Konferenz
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Electrical modelling of Through Silicon Vias (TSVs) and their impact on a CMOS circuit: Ring oscillator
    Benkechkache, M.A. ; Latreche, S. ; et al.
    In: 2017 International Conference on Electrical and Information Technologies (ICEIT), 2017-11-01, S. 1-5
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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