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  1. Noda, K. ; Matsui, K. ; et al.
    In: Proceedings of the IEEE 2000 Custom Integrated Circuits Conference (Cat. No.00CH37044), 2000, S. 283-286
    Konferenz
  2. Cerdeira, A. ; Tinoco, J. C. ; et al.
    In: 2010 27th International Conference on Microelectronics Proceedings, 2010-05-01, S. 391-394
    Konferenz
  3. Liu, Jun ; Sun, Lingling ; et al.
    In: 2010 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2010-05-01, S. 2478-2481
    Konferenz
  4. Rustagi, S.C. ; Liao, Huailin ; et al.
    In: International Conference on Microelectronic Test Structures,, 2003, S. 118-123
    Konferenz
  5. Vandamme, E.P. ; Badenes, G.
    In: ICM 2000. Proceedings of the 12th International Conference on Microelectronics. (IEEE Cat. No.00EX453), 2000, S. 371-374
    Konferenz
  6. Steininger, J.M.
    In: IEEE Circuits and Devices Magazine, Jg. 6 (1990-05-01), Heft 3, S. 26-31
    Online academicJournal
  7. Ramirez-Angulo, J.
    In: 1996 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), Jg. 1 (1996), S. 242-245
    Konferenz
  8. Kang, I. M. ; Lee, J. D. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 28 (2007-05-01), Heft 5, S. 425-427
    Online academicJournal
  9. Ramirez-Angulo, J. ; Choi, S.C. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Fundamental Theory and Applications, Jg. 42 (1995-11-01), Heft 11, S. 971-974
    Online academicJournal
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