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In: IEEE JOURNAL OF SOLID STATE CIRCUITS, Jg. 44 (2009), Heft 7, S. 2019-2025Online KonferenzZugriff:
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In: IEEE JOURNAL OF SOLID STATE CIRCUITS, Jg. 44 (2009), Heft 7, S. 1968-1976Online KonferenzZugriff:
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In: IEEE JOURNAL OF SOLID STATE CIRCUITS, Jg. 44 (2009), Heft 7, S. 2065-2077Online KonferenzZugriff:
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In: IEEE JOURNAL OF SOLID STATE CIRCUITS, Jg. 44 (2009), Heft 7, S. 1927-1941Online KonferenzZugriff:
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In: IEEE JOURNAL OF SOLID STATE CIRCUITS, Jg. 44 (2009), Heft 7, S. 2047-2054Online KonferenzZugriff:
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In: IEEE JOURNAL OF SOLID STATE CIRCUITS, Jg. 44 (2009), Heft 7, S. 1959-1967Online KonferenzZugriff:
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In: IEEE JOURNAL OF SOLID STATE CIRCUITS, Jg. 44 (2009), Heft 7, S. 1942-1949Online KonferenzZugriff:
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In: IEEE JOURNAL OF SOLID STATE CIRCUITS, Jg. 44 (2009), Heft 7, S. 1897-1906Online KonferenzZugriff:
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In: IEEE JOURNAL OF SOLID STATE CIRCUITS, Jg. 44 (2009), Heft 7, S. 1883-1896Online KonferenzZugriff:
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In: IEEE JOURNAL OF SOLID STATE CIRCUITS, Jg. 44 (2009), Heft 7, S. 1862-1871Online KonferenzZugriff:
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In: IEEE JOURNAL OF SOLID STATE CIRCUITS, Jg. 39 (2004), Heft NO 7, S. 1202-1207Online KonferenzZugriff:
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In: IEEE JOURNAL OF SOLID STATE CIRCUITS, Jg. 39 (2004), Heft NO 7, S. 1208-1212Online KonferenzZugriff:
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In: IEEE JOURNAL OF SOLID STATE CIRCUITS, Jg. 39 (2004), Heft NO 7, S. 1034-1043Online KonferenzZugriff:
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In: IEEE JOURNAL OF SOLID STATE CIRCUITS, Jg. 39 (2004), Heft NO 7, S. 1140-1147Online KonferenzZugriff:
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In: IEEE JOURNAL OF SOLID STATE CIRCUITS, Jg. 39 (2004), Heft NO 7, S. 1185-1190Online KonferenzZugriff:
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In: IEEE JOURNAL OF SOLID STATE CIRCUITS, Jg. 39 (2004), Heft NO 7, S. 1170-1174Online KonferenzZugriff:
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In: IEEE JOURNAL OF SOLID STATE CIRCUITS, Jg. 39 (2004), Heft NO 7, S. 1180-1184Online KonferenzZugriff:
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In: IEEE JOURNAL OF SOLID STATE CIRCUITS, Jg. 39 (2004), Heft NO 7, S. 1159-1163Online KonferenzZugriff:
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In: IEEE JOURNAL OF SOLID STATE CIRCUITS, Jg. 39 (2004), Heft NO 7, S. 1064-1072Online KonferenzZugriff:
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In: IEEE JOURNAL OF SOLID STATE CIRCUITS, Jg. 39 (2004), Heft NO 7, S. 1056-1063Online KonferenzZugriff: