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    Very low drift and high sensitivity of nanocrystal-TiO2 sensing membrane on pH-ISFET fabricated by CMOS compatible process
    BUNJONGPRU, W ; SUNGTHONG, A ; et al.
    In: Applied surface science, Jg. 267 (2013), S. 206-211
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Interface and plasma damage analysis of PEALD TaCN deposited on HfO2 for advanced CMOS studied by angle resolved XPS and C-V
    PIALLAT, Fabien ; BEUGIN, Virginie ; et al.
    In: Applied surface science, Jg. 303 (2014), S. 388-392
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Defect density reduction of the Al2O3/GaAs(001) interface by using H2S molecular beam passivation
    MERCKLING, C ; CHANG, Y. C ; et al.
    In: Surface science, Jg. 605 (2011), Heft 19-20, S. 1778-1783
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    In situ preparation of high dielectric constant, low-loss ferroelectric BaTiO3 films on Si at 500 °C
    MEILING, YUAN ; WEI, ZHANG ; et al.
    In: Applied surface science, Jg. 270 (2013), S. 319-323
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Probing buried interfaces on Ge-based metal gate/high-k stacks by hard X-ray photoelectron spectroscopy
    RUBIO-ZUAZO, J ; MARTINEZ, E ; et al.
    In: Applied surface science, Jg. 257 (2011), Heft 7, S. 3007-3013
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Annealing effects on the composition and disorder of Ga(N,As,P) quantum wells on silicon substrates for laser application
    GIES, S ; ZIMPRICH, M ; et al.
    In: Journal of crystal growth, Jg. 402 (2014), S. 169-174
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Synthesis of metal-incorporated graphitic microporous carbon terminated with highly-ordered graphene walls—Controlling the number of graphene layers by ambient-temperature metal sputtering
    ARGHYA NARAYAN, BANERJEE ; MIN, Bong-Ki ; et al.
    In: Applied surface science, Jg. 268 (2013), S. 588-600
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Electrochromic performance, wettability and optical study of copper manganese oxide thin films: Effect of annealing temperature
    FALAHATGAR, S. S ; GHODSI, F. E ; et al.
    In: Applied surface science, Jg. 289 (2014), S. 289-299
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Highly reliable molecular-pore-stacking (MPS)/Cu interconnects featuring best combination of post-etching treatment and resputtering processes
    OSHIDA, Daisuke ; KUME, Ippei ; et al.
    In: Microelectronic engineering, Jg. 118 (2014), S. 72-78
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Ge2Sb2Te5/SnSe2 nanocomposite multilayer thin films for phase change memory application
    XIAOYI, FENG ; TING, WEN ; et al.
    In: Applied surface science, Jg. 316 (2014), S. 286-291
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Formation of amorphous Yb2O3/crystalline ZrTiO4 gate stack and its application in n-MOSFET with sub-nm EOT
    LIN, Chia-Chun ; WU, Yung-Hsien ; et al.
    In: Applied surface science, Jg. 299 (2014), S. 47-51
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Novel nanostructure architectures
    SCHMIDT, O. G ; RASTELLI, A ; et al.
    In: Low-dimensional systems, Mauterndorf, Austria, 15-20 February 2004, Jg. 25 (2004), Heft 2-3, S. 280-287
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    c-axis orientation and piezoelectric coefficients of AlN thin films sputter-deposited on titanium bottom electrodes
    ABABNEH, A ; ALSUMADY, M ; et al.
    In: Applied surface science, Jg. 259 (2012), S. 59-65
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Shape controlled synthesis of CaMoO4 thin films and their photoluminescence property
    DE AZEVEDO MARQUES, Ana Paula ; LONGO, Valeria M ; et al.
    In: Journal of solid state chemistry (Print), Jg. 181 (2008), Heft 5, S. 1249-1257
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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